[发明专利]成像光学系统和具有该类型的成像光学系统的微光刻投射曝光设备有效
申请号: | 200880113375.1 | 申请日: | 2008-10-02 |
公开(公告)号: | CN101836164A | 公开(公告)日: | 2010-09-15 |
发明(设计)人: | 汉斯-于尔根·曼 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司SMT股份公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G02B17/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邱军 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 成像 光学系统 具有 类型 微光 投射 曝光 设备 | ||
1.成像光学系统(7),包括多个镜(M1至M8;M1至M6),其将物平面(5)中的物场(4)成像到像平面(9)中的像场(8),镜(M6、M7、M8;M4、M5、M6)的至少一个包括供成像光(15)经过的通孔(21),
其特征在于所述成像光学系统(7)包括至少六个镜(M1至M8;M1至M6),在像场(8)之前的在物场(4)和像场(8)之间的光路中第四最后镜(M5;M3)不包括通孔,且利用围绕所述第四最后镜(M5;M3)的光学有效表面的外边缘(22)提供成像光学系统(7)的光瞳平面(17;25,26)中的中心遮蔽。
2.如权利要求1所述的成像光学系统,其特征在于,所述第四最后镜(M5;M3)为凸镜。
3.如权利要求1或2所述的成像光学系统,其特征在于,所述第四最后镜(M5;M3)位于所述光学成像系统(7)的光轴(19)上。
4.如权利要求1-3的任一所述的成像光学系统,其特征在于,所述第四最后镜(M3)设置于所述光学成像系统(7)的光瞳平面(26)的区域中。
5.成像光学系统(7),包括多个镜(M1至M8;M1至M6),其将物平面(5)中的物场(4)成像到像平面(9)中的像场(8),镜(M6、M7、M8;M4、M5、M6)的至少一个包括供成像光(15)经过的通孔(21),
其特征在于所述成像光学系统(7)包括至少八个镜(M1至M8;M1至M6),在物场(4)和像场(8)之间的光路中第四最后镜(M5;M3)和所述光路中的最后镜(M8;M6)之间的距离为物场(4)和像场(8)之间的距离的至少10%。
6.成像光学系统(7),包括多个镜(M1至M8;M1至M6),其将物平面(5)中的物场(4)成像到像平面(9)中的像场(8),镜(M6、M7、M8;M4、M5、M6)的至少一个包括供成像光(15)经过的通孔(21),
其特征在于所述成像光学系统(7)包括至少六个镜(M1至M8;M1至M6),在物场(4)和像场(8)之间的光路中第四最后镜(M5;M3)和所述光路中的最后镜(M8;M6)之间的距离为物场(4)和像场(8)之间的距离的至少10%。
7.成像光学系统(7),包括多个镜(M1至M8;M1至M6),其将物平面(5)中的物场(4)成像到像平面(9)中的像场(8),镜(M6、M7、M8;M4、M5、M6)的至少三个包括供成像光(15)经过的通孔(21),
至少一个中间像平面(20、23;27)存在于所述物平面(5)和像平面(9)之间,
其特征在于最接近像平面(9)的中间像平面(23;27)在物场(4)和像场(8)之间的光路中空间上设置于最后镜(M8;M6)和像平面(9)之间。
8.如权利要求7所述的成像光学系统(7),其特征在于,距所述像平面(9)的中间像平面(23;27)的距离至多是所述光路中的最后镜(M8;M6)距所述像平面(9)的距离的0.95倍。
9.如权利要求1到8的任一所述的成像光学系统(7),其特征在于数值孔径至少0.4、优选至少0.5、甚至更优选至少0.6、甚至更优选至少0.9。
10.成像反射光学系统(7),包括少于十个镜(M1至M8),其将物平面(5)中的物场(4)成像到像平面(9)中的像场(8),
其特征在于数值孔径≥0.7。
11.根据权利要求10的成像光学系统(7),包括精确的八个镜(M1至M8)且具有0.9的数值孔径。
12.根据权利要求1至11的至少之一的成像光学系统(7)。
13.根据权利要求1至12的任一的成像光学系统,其特征在于波前误差的最大均方根(rms)小于10nm,优选小于5nm,甚至更优选小于2nm,甚至更优选小于1nm,甚至更优选小于0.5nm。
14.根据权利要求1至13的任一的成像光学系统,其特征在于最大变形小于10nm,优选小于5nm,甚至更优选小于2nm,甚至更优选小于1nm,甚至更优选小于0.5nm。
15.根据权利要求1至14的任一的成像光学系统,其特征在于光瞳遮拦小于20%,优选小于15%,甚至更优选小于10%。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于卡尔蔡司SMT股份公司,未经卡尔蔡司SMT股份公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200880113375.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。