[发明专利]成像光学系统、包括该类型的成像光学系统的用于微光刻的投射曝光设备、以及利用该类型的投射曝光设备生产微结构部件的方法有效

专利信息
申请号: 200880113386.X 申请日: 2008-10-02
公开(公告)号: CN101836151A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 汉斯-于尔根·曼 申请(专利权)人: 卡尔蔡司SMT股份公司
主分类号: G02B17/06 分类号: G02B17/06;G03F7/20
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邱军
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 成像 光学系统 包括 类型 用于 微光 投射 曝光 设备 以及 利用 生产 微结构 部件 方法
【权利要求书】:

1.成像光学系统(8),其仅包括镜作为光束引导光学部件(M1至M6;M1至M8;M1至M10)并将至少一个物平面(6;6a,6b)中的至少一个物场(4,5)成像到至少一个像平面(11;11,11a)中的至少一个像场(9,10),

其特征在于至少两个物场(4,5;4a,5a),该至少两个物场(4,5;4a,5a)空间上彼此分离并与类似空间上彼此分离的两个像场(9,10;9a,10a)相关联;有通过成像光路共同使用的成像光学系统(8)的至少一个光部件(M3至M6;M5至M8;M7至M10),成像路径至少部分地分离并呈现在彼此分离布置的物场(4,5;4a,5a)和彼此分离布置的像场(9,10;9a,10a)之间。

2.成像光学系统(8),配置为成直线系统,其部件(M1至M6;M1至M8;M1至M10)因此能够全部与同一个连续光轴(19)相关联,且该成像光学系统(8)将至少一个物平面(6;6a,6b)中的至少一个物场(4,5;4a,5a)成像到至少一个像平面(11;11,11a)中的至少一个像场(9,10;9a,10a),

其特征在于至少两个物场(4,5;4a,5a),该至少两个物场(4,5;4a,5a)空间上彼此分离并与类似空间上彼此分离的两个像场(9,10;9a,10a)相关联;至少两个物场之间的成像光路;和共同使用成像光学系统的至少一个光瞳平面的至少两个像场。

3.如权利要求1或2所述的成像光学系统,其特征在于由至少三个部件组(20、21、22;20、21、41、43、44;45、20、21、22;35、36)构成的结构,所述部件组(20、21、22;20、21、41、43、44;45、20、21、22;35、36)的每一个能够与来自两个下面的组的类型相关联:

-场类型(20、21;20、21、43、44;35、36),其中引导来自精确的一个物场(4,5;4a,5a)的成像光线(25);

-孔径类型(22;41;45),其中引导来自所有物场(4,5;4a,5a)的成像光线(25)。

4.如权利要求2和3所述的成像光学系统,其特征在于,部件组(20、21、22;20、21、41、43、44;45、20、21、22;35、36)中的至少一个仅包括镜(M1至M6;M1至M8;M1至M10)。

5.如权利要求3或4所述的成像光学系统,其特征在于,至少一个场部件组(20、21;20、21、43、44;35、36)具有比至少一个孔径部件组(22;41)低的数值孔径。

6.如权利要求3至5的任一所述的成像光学系统,其特征在于精确的两个物场(4、5;4a、5a)、精确的两个像场(9、10)和至少三个部件组(20、21、22;20、21、41、43、44;45、20、21、22;35、36),

-两个场部件组(20、21),每一个布置在两个物场(4,5;4a,5a)之一和成像光学系统(8)的光瞳平面(23)之间,以及

-孔径部件组(22),布置在光瞳平面(23)和两个像场(9、10)之间。

7.如权利要求6所述的成像光学系统,其特征在于,

-两个场部件组(20、21),每一个布置在两个物场(4,5)之一和成像光学系统(8)的光瞳平面(37)之间,

-两个另外的场部件组(43、44),布置在该光瞳平面(37)和成像光学系统(8)的另一光瞳平面(39)之间,

-孔径部件组(23),布置在所述另一光瞳平面(39)和两个像场(9,10)之间。

8.如权利要求1至7的任一所述的成像光学系统,其特征在于,成像光学系统(8)对于在第二物场(5;5a)和相关联的第二像场(10;10a)之间的光路中以及在第一物场(4;4a)和相关联的第一像场(9)之间的光路中的不同的成像光(25)的波长来配置。

9.如权利要求1至8的任一所述的成像光学系统,其特征在于,两个物场(4a、5a)布置在彼此相距一距离的物平面(6a、6b)中。

10.如权利要求1至9的任一所述的成像光学系统,其特征在于,两维光学感测装置(30)布置在两个物场之一(5)中并感测与该物场(5)相关联的像场(10)和所述物场(5)之间的成像光线(16)。

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