[发明专利]用于在接收器中训练参考电压电平及数据取样定时的方法及设备有效
申请号: | 200880113749.X | 申请日: | 2008-10-08 |
公开(公告)号: | CN101842776A | 公开(公告)日: | 2010-09-22 |
发明(设计)人: | 蒂莫西·M·霍利斯 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | G06F13/00 | 分类号: | G06F13/00 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 沈锦华 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 接收器 训练 参考 电压 电平 数据 取样 定时 方法 设备 | ||
1.一种用于在接收器中优化信号的取样点的方法,其包含:
在多个相位处对所述信号进行取样,且在所述多个相位中的每一者处计算电压容限;
从所述电压容限中确定最大电压容限且存储与所述最大电压容限相关联的第一参考电压电平及第一相位值;
在多个参考电压电平处对所述信号进行取样,且在所述多个参考电压电平中的每一者处计算定时容限;
从所述定时容限中确定最大定时容限且存储与所述最大定时容限相关联的第二参考电压电平及第二相位值;
根据所述第一及第二相位值以及所述第一及第二参考电压电平确定所述信号的最佳取样点。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述最大电压容限包含最大数目的无错误参考电压电平,且其中每一参考电压电平具有至少一个无错误相位值。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述最大定时容限包含最大数目的无错误相位值,且其中每一相位值具有至少一个无错误参考电压电平。
4.根据权利要求1所述的方法,其中在所述多个相位中的每一者处计算所述电压容限包含在所述多个相位中的每一者处将所述信号与所述参考电压电平进行比较,同时在每一垂直方向上改变所述多个参考电压电平。
5.根据权利要求1所述的方法,其中在所述多个参考电压电平中的每一者处计算所述定时容限包含在每一参考电压电平处将所述信号与所述参考电压电平进行比较,同时在每一水平方向上改变所述多个相位。
6.根据权利要求1所述的方法,其中所述多个参考电压电平中的每一者包含从参考电压电路输出的电压电平。
7.根据权利要求1所述的方法,其中通过歪斜所述接收器的差动引线中的偏置电流来形成所述多个参考电压电平中的每一者。
8.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一参考电压电平及相位值位于所述最大电压容限的中点处,且其中所述第二参考电压电平及相位值位于所述最大定时容限的中点处。
9.根据权利要求1所述的方法,其中将所述第一及第二相位值求平均值且将所述第一及第二参考电压电平求平均值以确定所述信号的所述最佳取样点。
10.一种用于在接收器中优化信号的取样点的方法,其包含:
建立所述取样点,其中所述取样点包含取样相位及参考电压电平;
从所述取样点开始在多个相位处测量所述信号以确定第一定时失效及第二定时失效;
基于所述第一定时失效及所述第二定时失效来更新所述取样点的所述取样相位;
从所述经更新取样点开始在多个参考电压电平处测量所述信号以确定第一电压失效及第二电压失效;及
基于所述第一电压失效及所述第二电压失效来更新所述经更新取样点的所述参考电压电平。
11.根据权利要求10所述的方法,其进一步包含通过重复所述测量及更新的动作以进一步更新所述取样相位及参考电压电平来进一步精化所述取样点。
12.根据权利要求11所述的方法,其中执行所述重复所述测量及更新的动作达指定数目的反复。
13.根据权利要求11所述的方法,其中执行所述重复所述测量及更新的动作直到先前取样点与当前取样点之间的差降到低于指定阈值为止。
14.根据权利要求10所述的方法,其中建立所述取样点包含确定所述信号的中点相位与中点电压电平的交叉点。
15.根据权利要求10所述的方法,其中所述多个相位包含所述信号的数据转变与所述取样点之间的相位差。
16.根据权利要求10所述的方法,其中所述第一及第二定时失效以及所述第一及第二电压失效与所述信号中的至少一个错误相符。
17.根据权利要求10所述的方法,其中更新所述取样相位包含将所述取样相位调整所述第一与第二定时失效之间的差的一半,且其中更新所述参考电压电平包含将所述参考电压电平调整所述第一与第二电压失效之间的差的一半。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美光科技公司,未经美光科技公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200880113749.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。