[发明专利]生产与控制电子组件的板或晶片的方法与设备无效

专利信息
申请号: 200880115779.4 申请日: 2008-03-05
公开(公告)号: CN101855603A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 安德烈亚·贝茨尼 申请(专利权)人: 应用材料意大利唯一股东有限公司
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 意大利圣比亚*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要:
搜索关键词: 生产 控制 电子 组件 晶片 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种生产及控制电子组件的板(12)的方法,包括:

一第一步骤,其借助定位构件(34)将一平板(12)定位于一加载台(16);

一第二步骤,其放置该平板(12)于一沉积台(18),该沉积台(18)与用于沉积金属或其它材料的一单元(20)相关联,在该单元(20)中,在该平板(12)上沉积该金属或其它材料,以根据一预定及期望拓扑布置,在这些平板(12)上产生由金属或其它材料制成的线路;

一第三步骤,其放置该平板(12)于一退出台(24),且致动一检测构件(30),以检测该平板(12)中是否存在缺陷;以及

一第四步骤,其将该平板(12)从该退出台(24)释出,

其特征在于:在该第一步骤中致动该检测构件(30),以识别放置在该加载台(16)的该平板(12)中的缺陷;并且当该检测构件(30)在该第一步骤中未在该平板(12)上检测到任何缺陷,则在该第二步骤中致动该沉积单元(20),以在该平板(12)上沉积该金属或其它材料。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:在该第四步骤中,借助定位构件(34)在一第一释出方向上释出无缺陷的该平板(12)。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:在该第四步骤中,借助该定位构件(34)在一第二释出方向上释出有缺陷的该平板(12)。

4.如上述任一权利要求所述的方法,其特征在于:该第四步骤在从该退出台(24)释出该平板(12)之后还包括一子步骤,其清洁该定位构件(34),以清除杂质。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于:借助空气抽吸清洁该定位构件(34)。

6.如上述任一权利要求所述的方法,其特征在于:该检测构件包括至少一电视摄影机(30)。

7.一种生产与控制电子组件的板(12)的设备,包括:

一加载台(16);

一退出台(24);

至少一中间插入沉积台(18),其与用于沉积金属或其它材料的一相应单元(20)相关联,适于根据一预定布置,在该平板(12)上沉积金属线路或其它材料;

一传送构件(28),其能够将平板(12)穿过该沉积台(18)从该加载台传送至该退出台(24);

检测构件(30),其与该退出台(24)相关联,该检测构件(30)能够检测被放置在该退出台(24)上的一平板(12)中的缺陷;以及

一控制单元(36),其适于致动用于沉积金属或其它材料的该单元(20),还可以致动该传送构件(28)及该定位构件(34),其特征在于:该检测构件(30)适于观察被放置在该加载台(16)的一平板(12),以检测缺陷,且致动该金属沉积单元(20),以在该检测构件(30)未在一平板(12)上发现任何缺陷时,在该平板(12)上沉积金属或其它材料。

8.如权利要求7所述的设备,其特征在于:该传送构件(28)及该定位构件(34)被致动,以在一第一释出方向上从该退出台(24)移动一无缺陷的平板(12)。

9.如权利要求8所述的设备,其特征在于:该传送构件(28)及该定位构件(34)被致动,以在一第二释出方向上从该退出台(24)移动一有缺陷的平板(12)。

10.如权利要求7所述的设备,其特征在于:该检测构件包括一电视摄影机(30)。

11.如权利要求7所述的设备,其特征在于:该检测构件包括一对电视摄影机(30,130),该对电视摄影机(30,130)中的一第一电视摄影机(30)与该加载台(16)相关联,且该对电视摄影机(30,130)中的一第二电视摄影机(130)与该退出台相关联。

12.如权利要求7至11中任一所述的设备,其特征在于:其包含清除杂质的构件,适于清洁该定位构件(34)。

13.如权利要求12所述的设备,其特征在于:该清除杂质的构件包括一空气抽吸装置。

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