[发明专利]增加存储器的多个块的寿命

权利要求书

1.一种方法，包括：

确定影响存储器的多个块的寿命的至少一个因子；以及

基于所述至少一个因子选择所述多个块中要进行写入的块。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个因子包括在涉及存储器的至少一个块的读取操作过程中的错误的数量。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述错误是检测到的错误。

4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述错误是被校正的错误。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个因子包括在涉及存储器的至少一个块的编程操作与读取操作之间的持续时间。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个因子包括对存储器的至少一个块进行擦除的次数。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个因子包括擦除存储器的至少一个块所需要的持续时间。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个因子包括对存储器的至少一个块进行编程所需要的持续时间。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个因子包括对存储器的至少一个块进行编程所需要的重试的次数。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个因子包括存储器的至少一个块的页的插入读取的数量。

11.根据权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个因子包括相邻页中的插入读取的数量。

12.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括基于所述至少一个因子计算分数。

13.根据权利要求12所述的方法，其中，所述选择基于所述分数。

14.根据权利要求1所述的方法，其中，所述选择基于多个所述因子。

15.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个块中具有较长估计寿命的第一块在所述多个块中具有较短估计寿命的第二块之前被写入。

16.根据权利要求15所述的方法，其中，所述多个块中具有较短估计寿命的所述第二块高于阈值。

17.根据权利要求16所述的方法，其中，所述多个块中具有较长估计寿命的所述第一块低于阈值。

18.根据权利要求1所述的方法，其中，所述存储器包括机械存储设备。

19.根据权利要求1所述的方法，其中，所述存储器包括易失性存储设备。

20.根据权利要求1所述的方法，其中，所述存储器包括非易失性存储设备。

21.根据权利要求20所述的方法，其中，所述非易失性存储设备包括每单元单比特的NOR闪存、每单元多比特的NOR闪存、每单元单比特的NAND闪存、以及每单元多比特的NAND闪存中的至少一个。

22.根据权利要求1所述的方法，进一步包括存储存储器的所述多个块的使用历史。

23.一种在计算机可读介质上实施的计算机程序产品，包括：

用于确定影响存储器的多个块的寿命的至少一个因子的计算机代码；以及

基于所述至少一个因子选择所述多个块中要进行写入的块的计算机代码。

24.一种装置，包括：

逻辑电路，用于基于影响存储器的多个块的寿命的至少一个因子选择所述多个块中要进行写入的块。

25.根据权利要求24所述的装置，其中，所述逻辑电路连接在系统与所述存储器之间。