[发明专利]测试装置及校准方法无效

专利信息
申请号: 200880119492.9 申请日: 2008-12-03
公开(公告)号: CN101889212A 公开(公告)日: 2010-11-17
发明(设计)人: 泷泽茂树 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人: 齐永红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 测试 装置 校准 方法
【权利要求书】:

1.一种用于测试被测试器件的测试装置,其特征在于所述测试装置包括:

驱动部,将测试信号提供给所述被测试器件的对应管脚;

判断部,根据所述被测试器件对输出的与上述测试信号相对应的应答信号,判定所述被测试器件的好坏;

电平测定部,用于检测所述驱动部输出的信号的直流电平;

输出侧调整部,根据所述电平测定部检测出的所述直流电平,调整所述驱动部输出的信号的占空比。

2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于所述测试装置包括:

多个信号生成部,所述信号生成部分别具有所述驱动部、所述电平测定部以及所述输出侧调整部。

3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于:

各个所述电平测定部设置为在向所述被测试器件提供规定的电流时,能够测定对所述被测试器件外加的电压电平。

4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于:

各个所述信号生成部还具有图像发生部,其在所述驱动部向所述被测试器件提供所述测试信号之前,输出对应所述驱动部中预先规定的图像的调整用信号;

所述输出侧调整部,当所述驱动部输出所述调整用信号时,根据所述电平测定部检出的所述直流电平,预先调整所述驱动部输出的信号的占空比。

5.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于:

所述驱动部,将输入的差动信号转换为单端的信号并输出;

所述输出侧调整部,通过将应给予所述驱动部中输入的反转侧信号及非反转侧信号的偏置电平的至少一方,根据所述电平测定部检出的所述直流电平进行调整,来调整所述驱动部应输出的所述测试信号的占空比。

6.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于:

各个所述图像发生部,向对应的所述驱动部大致同时地输出所述调整用信号;

各个所述电平测定部,大致同时地检测出对应的所述驱动部所输出的所述调整用信号的所述直流电平。

7.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于:

所述输出侧调整部,在变更应向所述被测试器件提供给的所述测试信号的频率时,根据该频率而预先调整所述驱动部输出的信号的占空比。

8.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于:

所述输出侧调整部,还根据所述驱动部的温度,调整所述驱动部输出的信号的占空比。

9.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于:

所述信号生成部还具有切换部,其用于切换是否将所述电平测定部连接在所述驱动部及所述被测试器件之间的传输路径上。

10.根据权利要求9所述的测试装置,其特征在于:

所述切换部,在调整所述驱动部中的占空比时,使用低通滤波器,在所述电平测定部测定所述传输路径传送的信号,在测定所述被测试器件外加的电压电平时,不使用所述低通滤波器,使所述电平测定部测定所述传输路径中传送的信号。

11.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于:

所述图像发生部,向所述驱动部依次输出被H逻辑固定的H固定调整用信号、被L逻辑固定的L固定调整用信号以及H逻辑及L逻辑交替重复的基准调整用信号;

所述输出侧调整部调整所述驱动部中的所述占空比,以使所述电平测定部针对所述基准调整用信号所检测出的所述直流电平,成为所述电平测定部针对所述H固定调整用信号及所述L固定调整用信号所检测出的所述直流电平的大致中间的电平。

12.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于:

所述图像发生部,向所述驱动部依次输出比应提供给所述被测试器件的所述测试信号的频率低的低频调整用信号及与应提供给所述被测试器件的所述测试信号的频率大致相同频率的基准调整用信号;

所述输出侧调整部,调整所述驱动部的所述占空比,以使所述电平测定部针对所述基准调整用信号所检测出的所述直流电平,与所述电平测定部针对所述低频调整用信号所检出的所述直流电平大致相同的电平。

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