[发明专利]用于控制成像设备的接近检测无效

专利信息
申请号: 200880119576.2 申请日: 2008-10-29
公开(公告)号: CN101889246A 公开(公告)日: 2010-11-17
发明(设计)人: 格里高利·T·吉布森;乔舒亚·M·胡德曼;兰黛尔·B·斯帕拉古 申请(专利权)人: 微视公司
主分类号: G03B21/14 分类号: G03B21/14
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 周亚荣;安翔
地址: 美国华*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 控制 成像 设备 接近 检测
【权利要求书】:

1.一种基于检测接近物体来控制投影仪的方法,包括:

投影图像,作为投影仪的输出;

以第一角度将投影光束投影;

用具有被置于第二角度的视场的检测器检测所述投影光束的反射光束,所述第二角度不同于所述第一角度;

至少部分基于由所述检测器因所述投影光束从物体反射开而检测到所述反射光束的变化,来确定所述物体是否被放置在所述视场中;并且

如果物体被放置在所述视场中,则调整所述投影仪的输出。

2.如权利要求1所述的方法,所述调整包括:减小所述投影仪的输出功率、或关闭所述投影仪。

3.如权利要求1所述的方法,所述调整包括:减小所述投影仪的输出功率、或关闭所述投影仪,并且进一步包括:如果所述物体不再被放置在所述视场中,则随后增加所述投影仪的输出或开启所述投影仪。

4.如权利要求1所述的方法,所述确定进一步包括:经由对于所述投影光束和经由所述检测器的所述反射光束的三角测量法,来确定所述物体的位置,所述调整至少部分基于所述物体的位置。

5.一种接近检测器,包括:

至少一个发射器,能够以第一角度发射至少两个投影光束;

检测器,能够检测所述至少两个投影光束的至少一个反射光束,所述检测器具有被置于第二角度的视场,所述第二角度不同于所述第一角度;以及

处理器,接收来自所述检测器的输出,所述处理器能够至少部分基于由所述检测器因所述至少两个投影光束中的任何一个从物体反射开而检测到所述反射光束的变化,来确定所述物体是否被放置在所述视场中。

6.如权利要求5所述的接近检测器,进一步包括投影光学器件,以提供用于所述至少两个投影光束的发射圆锥,所述第一角度落入所述发射圆锥内,所述发射圆锥确立用于由所述检测器检测所述反射光束的距离范围。

7.如权利要求5所述的接近检测器,进一步包括成像光学器件,以提供用于所述反射光束的接受圆锥,所述第二角度落入接受圆锥内,所述接受圆锥确立用于由所述检测器检测所述反射光束的距离范围。

8.如权利要求5所述的接近检测器,所述处理器能够经由对于所述至少两个投影光束中的任何一个和经由所述检测器的输出的反射光束的三角测量法,来确定所述物体的位置。

9.如权利要求5所述的接近检测器,所述检测器包括单个检测器元件,所述处理器能够经由所述单个检测器元件的输出,通过检测所述反射光束的大小的变化、通过检测所述反射光束的形状的变化、或通过检测所述反射光束的位置的变化,来检测所述反射光束的变化。

10.如权利要求5所述的接近检测器,所述检测器包括两个或两个以上检测器元件的阵列,所述处理器能够经由所述两个或两个以上检测器元件的阵列的输出,通过检测所述反射光束的大小的变化、通过检测所述反射光束的形状的变化、或通过检测所述反射光束的位置的变化,来检测所述反射光束的变化。

11.一种用于基于检测接近物体来控制图像投影的装置,包括:

投影仪,能够投影图像作为所述投影仪的输出;以及

接近检测器,耦合到所述投影仪,所述接近检测器包括:

发射器,能够以第一角度发射投影光束;

检测器,能够检测所述投影光束的反射光束,所述检测器具有被置于第二角度的视场,所述第二角度不同于所述第一角度;以及

处理器,能够至少部分基于由所述检测器因所述投影光束从物体反射开而检测到所述反射光束的变化,来确定所述物体是否被放置在所述视场内,如果所述物体被放置在接近于所述投影仪的视场内,则所述处理器能够调整所述投影仪的输出。

12.如权利要求11所述的装置,所述处理器能够减小所述投影仪的输出功率、或关闭所述投影仪。

13.如权利要求11所述的装置,如果所述物体被放置在所述视场中,所述处理器能够减小所述投影仪的输出功率、或者关闭所述投影仪,并且进一步,如果所述物体不再被放置在所述视场中,则所述处理器随后能够增加所述投影仪的输出或开启所述投影仪。

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