[发明专利]用于物位测量的方法

权利要求书

1.用于容器(1)中的物位测量的方法，第一填充物质(3)和/或第二填充物质(5)位于该容器中，其中第一填充物质(3)的比重比第二填充物质(5)的比重小，并且两种填充物质(3，5)具有不同的介电常数(ε)，其中

-将电磁信号(S)发送进入容器(1)，

-在至少一个由容器(1)中含有的填充物质(3，5)产生的介质边界处发生反射，其中所述信号(S)的一部分(Rx，Ry)被反射，并且

-对于每一被反射的部分(Rx，Ry)，测量一个依赖于引起反射的介质边界的位置的渡越时间(Tx，Ty)，该渡越时间是所述信号(S)的这个部分(Rx，Ry)抵达这个介质边界并返回所需的时间，

-测量在电容性探头(13)和参考电极(15)之间的电容(C)，该电容依赖于位于容器(1)中的填充物质(3，5)的量，以及

-基于测量的电容(C)和测量的渡越时间(Tx，Ty)，对于容器(1)中含有的每一种填充物质(3，5)确定一个位置，该位置对应于当容器中的每一种填充物质(3，5)的总量形成单一的仅含有这种填充物质(3，5)的层时，由于容器中含有的第一填充物质(3)的量以及容器(1)中含有的第二填充物质(5)的量而使得相应填充物质(3，5)的填充物质上表面所处的位置。

2.根据权利要求1所述的用于物位测量的方法，其中，基于这个位置确定在容器中是仅有第一填充物质(3)、仅有第二填充物质(5)、还是有两种填充物质(3，5)。

3.根据权利要求1所述的用于物位测量的方法，其中，

-测量依赖于第一介质边界的位置的第一渡越时间(Tx)、依赖于第二介质边界的位置的第二渡越时间(Ty)以及电容(C)，以及

-基于这三个测量变量中的两个，对于容器(1)中含有的每一种填充物质(3，5)确定一个位置，该位置对应于当容器(1)中的每一种填充物质(3，5)的总量形成单一的仅含有这种填充物质(3，5)的层时，由于容器(1)中含有的第一填充物质(3)的量以及容器(1)中含有的第二填充物质(5)的量而使得相应填充物质(3，5)的填充物质上表面所处的位置，并且

-基于第三测量变量检查这些推导的结果。

4.根据权利要求1所述的用于物位测量的方法，其中，

-测量依赖于第一介质边界的位置的第一渡越时间(Tx)、依赖于第二介质边界的位置的第二渡越时间(Ty)以及电容(C)，

-基于测量的第一渡越时间(Tx)、测量的第二渡越时间(Ty)以及电容(C)，确定第一填充物质(3)的至少一个由材料特定的常数，并且

-基于三个测量的变量中的至少两个变量以及基于由材料特定的常数，确定当容器(1)中的每一种填充物质(3，5)的总量形成单一的仅含有这种填充物质(3，5)的层时，由于容器(1)中含有的第一填充物质(3)的量以及容器(1)中含有的第二填充物质(5)的量而使得相应填充物质(3，5)的填充物质上表面所处的位置。

5.根据权利要求4所述的用于物位测量的方法，其中，由材料特定的常数是第一填充物质(3)的介电常数(ε)。

6.根据权利要求5所述的用于物位测量的方法，其中，基于第一填充物质(3)的介电常数(ε)，确定电磁信号(S)在第一填充物质(3)中的传播速度(v₁)以及第一填充物质(3)的电容增加因子(b)，其中电容增加因子(b)给出了电容(C)依赖于第一填充物质(3)填充高度(H1)的增加。

7.根据权利要求1所述的用于物位测量的方法，其中，对于仅能确定一个渡越时间(Tx)的情况，

-建立一个假设，关于在哪一介质边界发生对于测量的渡越时间(Tx)有决定性的反射，

-对于容器(1)中含有的每一种填充物质(3，5)，基于测量的渡越时间(Tx)、测量的电容(C)以及所述假设，确定当容器(1)中的每一种填充物质(3，5)的总量形成单一的仅含有这种填充物质(3，5)的层时，由于容器(1)中含有的第一填充物质(3)的量以及容器(1)中含有的第二填充物质(5)的量而使得相应填充物质(3，5)的填充物质上表面所处的位置，

-基于物理边界条件，检查以所述假设为基础确定的位置的正确性，以及

-当检查显示不符合时，改变假设，重复这个方法。