[发明专利]对裂变室测量信号进行处理的方法

权利要求书

1.一种用于确定分别放置在N个测量裂变室中的N个可裂变物质沉积物的有效质量的方法，其中，N是1或更大的整数，所述方法的特征在于包括以下步骤：

A)第一测量步骤(E1)，在此期间测量分别放置在N个校准裂变室中的有效质量已知的N个可裂变物质沉积物的计数率，以形成已知可裂变物质沉积物的计数率矩阵[C]₀，其中，所述N个校准裂变室的外部尺寸分别与所述N个测量裂变室相同，

B)第二测量步骤(E2)，在此期间测量放置在所述N个测量裂变室中的N个可裂变物质沉积物的计数率，以形成可裂变物质沉积物的计数率矩阵[C]，所述第二测量步骤是在与执行所述第一测量步骤的测量条件相同的测量条件下执行的，以及

C)计算步骤(E3)，计算列矩阵[m]，使得：

[m]＝[C].I([a]×([a]₀^-1×[m]₀^-1×[C]₀))，

矩阵[m]的系数是待确定的有效质量，符号“.I”和“×”分别是“矩阵除法”运算符和“矩阵乘积”运算符，而矩阵[a]，[a]₀^-1和[m]₀^-1分别是：

矩阵[a]，与有效质量待确定的N个可裂变物质沉积物相关联的同位素分析的已知矩阵，

矩阵[a]₀^-1，与有效质量已知的N个可裂变物质沉积物相关联的同位素分析的已知矩阵[a]₀的逆矩阵，

矩阵[m]₀^-1，已知矩阵[m]₀的逆矩阵，其中，矩阵[m]₀的系数是已知的N个可裂变物质沉积物的已知有效质量。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，计算矩阵[m]的方差矩阵，使得：

var[m]={var[C]+[mij2]×(var[a]×[Xij2]+[aij2]×var[X])}·I{[([a]×[X])ij2]},]]>

其中

var[C]是矩阵C的方差矩阵，

var[a]是矩阵[a]的方差矩阵，

var[X]是矩阵[X]的方差矩阵，从而：

[X]=[a]0-1×[m]0-1×[C]0,]]>

[m_ij²]是由项m_ij的平方组成的矩阵，项m_ij是矩阵[m]的系数，i是与矩阵的行相关的索引，而j是与矩阵的列相关的索引，

是由项a_ij的平方组成的矩阵，项a_ij是矩阵[a]的系数，i是与矩阵的行相关的索引，而j是与矩阵的列相关的索引，

是由项X_ij的平方组成的矩阵，项X_ij是矩阵[X]的系数，i是与矩阵的行相关的索引，而j是与矩阵的列相关的索引，

是由项([a]×[X])_ij的平方组成的矩阵，项([a]×[X])_ij是乘积矩阵[a]×[X]的系数，i是与矩阵的行相关的索引，而j是与矩阵的列相关的索引。