[发明专利]使涂在抗反射涂层上的光致抗蚀剂成像的方法无效
申请号: | 200880121715.5 | 申请日: | 2008-12-15 |
公开(公告)号: | CN101903830A | 公开(公告)日: | 2010-12-01 |
发明(设计)人: | D·阿布达拉;A·D·迪奥塞斯;A·G·蒂姆科;张汝志 | 申请(专利权)人: | AZ电子材料美国公司 |
主分类号: | G03F7/075 | 分类号: | G03F7/075;G03F7/09;G03F7/16 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 宓霞 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 反射 涂层 光致抗蚀剂 成像 方法 | ||
1.使涂在抗反射涂层上的光致抗蚀剂成像的方法,包括:
a)由抗反射涂料组合物形成抗反射膜,其中该组合物包含硅氧烷聚合物,
b)用含水碱性处理溶液处理该抗反射膜;
c)用含水清洗液清洗该经处理的抗反射膜;
d)在该抗反射涂料组合物的膜上形成光致抗蚀剂的涂层,
e)将该光致抗蚀剂膜成像式曝光;和
f)用含水碱性显影溶液将该光致抗蚀剂显影。
2.权利要求1的方法,其中该抗反射组合物还包含固化剂。
3.权利要求1或2的方法,其中该抗反射组合物还包含交联剂。
4.权利要求1-3中任一项的方法,其中该抗反射组合物不含固化剂。
5.权利要求1-4中任一项的方法,其中该硅氧烷聚合物包含碱可水解基团。
6.权利要求1-5中任一项的方法,其中该硅氧烷聚合物包含碱可水解SiX基团,其中X选自烷氧基、氯基、酰氧基和酮肟基。
7.权利要求1-6中任一项的方法,其中该含水碱性处理溶液包含氢氧化四甲基铵。
8.权利要求1-7中任一项的方法,其中该清洗液是水。
9.权利要求1-8中任一项的方法,其中该光致抗蚀剂包含聚合物和光酸产生剂。
10.权利要求1-9中任一项的方法,其中该成像式曝光在选自248nm、193nm、157nm和13.5nm的波长下进行。
11.权利要求1-10中任一项的方法,其中该显影溶液包含氢氧化四甲基铵。
12.权利要求1-11中任一项的方法,其中该抗反射膜在用含水碱性溶液处理后具有大约50°-大约75°的水接触角。
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