[发明专利]光电转换元件制造装置和方法、以及光电转换元件有效
申请号: | 200880122240.1 | 申请日: | 2008-12-12 |
公开(公告)号: | CN101903562A | 公开(公告)日: | 2010-12-01 |
发明(设计)人: | 大见忠弘;寺本章伸;后藤哲也;田中宏治 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社;国立大学法人东北大学 |
主分类号: | C23C16/511 | 分类号: | C23C16/511;H01L31/04 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 柳春雷;南霆 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 转换 元件 制造 装置 方法 以及 | ||
1.一种光电转换元件制造装置,所述装置是在衬底上通过微波等离子体CVD(Chemical Vapor Deposition,化学气相沉积)法来形成半导体的层积膜的光电转换元件制造装置,所述光电转换元件制造装置的特征在于,包括:
腔室,所述腔室是密闭空间,并且所述腔室中内置有载放衬底的基座,所述衬底是要形成薄膜的对象;
第一气体供应部,其对所述腔室内的等离子体激发区域提供等离子体激发气体;
调压部,其调整所述腔室内的压力;
第二气体供应部,其对所述腔室内的等离子体扩散区域提供原料气体;
微波施加部,其将微波导入到所述腔室内;以及
偏置电压施加部,根据所述气体种类来选择衬底偏置电压并将其施加给所述衬底。
2.一种光电转换元件的制造方法,其特征在于,
所述方法使用权利要求1所述的光电转换元件制造装置,制造所述层积膜的缺陷数小于等于1017个/cm3的光电转换元件。
3.一种光电转换元件的制造方法,其特征在于,
所述方法使用权利要求1所述的光电转换元件制造装置,制造所述层积膜的氧浓度小于等于1019atom/cm3的光电转换元件。
4.一种光电转换元件的制造方法,其特征在于,
所述方法使用权利要求1所述的光电转换元件制造装置,制造所述层积膜的缺陷数小于等于1017个/cm3并且氧浓度小于等于1019atom/cm3的光电转换元件。
5.如权利要求1所述的光电转换元件制造装置,其特征在于,
所述微波使用RLSA(Radial Line Slot Antenna,径向线缝隙天线)在所述腔室内传播。
6.一种光电转换元件制造方法,其特征在于,包括以下步骤:
第一步骤,将等离子体激发气体导入到腔室内,所述腔室中内置载放有衬底的基座,所述衬底是要形成薄膜的对象;
第二步骤,对所述腔室内进行调压;
第三步骤,在对所述腔室内导入微波之后再对该腔室内导入原料气体,或者在对所述腔室内导入原料气体之后再对该腔室内导入微波;以及
第四步骤,对所述衬底施加衬底偏置电压,
并且,所述光电转换元件制造方法制造所述薄膜的缺陷数小于等于1017个/cm3的光电转换元件。
7.一种光电转换元件制造方法,其特征在于,包括以下步骤:
第一步骤,将等离子体激发气体导入到腔室内,所述腔室中内置载放有衬底的基座,所述衬底是要形成薄膜的对象;
第二步骤,对所述腔室内进行调压;
第三步骤,在对所述腔室内导入微波之后再对该腔室内导入原料气体,或者在对所述腔室内导入原料气体之后再对该腔室内导入微波;以及
第四步骤,对所述衬底施加衬底偏置电压,
并且,所述光电转换元件制造方法制造所述薄膜的氧浓度小于等于1019atom/cm3的光电转换元件。
8.如权利要求6或7所述的光电转换元件制造方法,其特征在于,
通过将在所述第三步骤中导入的原料气体逐次改变成第一原料气体、第二原料气体、第三原料气体来执行所述第一步骤至第四步骤,对所述衬底依次层积p型半导体膜、i型半导体膜、n型半导体膜,将这样形成的1层pin结层积1层以上的所期望的量。
9.如权利要求8所述的光电转换元件制造方法,其特征在于,
当所述层积数为2时,如下形成该两个层:至少i层包含微结晶或多结晶硅的第一pin结、至少i层包含微结晶或多结晶锗的第二pin结。
10.如权利要求8所述的光电转换元件制造方法,其特征在于,
当所述层积数为3时,如下形成该3个层:涉及至少i层包含非晶态硅的第一pin结、至少i层包含微结晶或多结晶硅锗的第二pin结、至少i层包含微结晶或多结晶锗的第三pin结,并且以所述第一pin结—第二pin结—第三pin结、或者所述第三pin结—第二pin结—第一pin结的方式来进行层积。
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