[发明专利]用于扫描光束显示器的输入装置有效
申请号: | 200880122635.1 | 申请日: | 2008-12-04 |
公开(公告)号: | CN101911162A | 公开(公告)日: | 2010-12-08 |
发明(设计)人: | 兰黛尔·B·斯帕拉古;克里斯蒂安·迪安·德容;格里高利·T·吉布森 | 申请(专利权)人: | 微视公司 |
主分类号: | G09G3/02 | 分类号: | G09G3/02;G09G3/32;G09G3/20;G09G3/34;G09G3/36 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 周亚荣;安翔 |
地址: | 美国华*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 扫描 光束 显示器 输入 装置 | ||
1.一种方法,包括:
通过扫描光束在预先定义的区域上使用扫描平台生成光栅扫描;
使用照射器照射在所述预先定义的区域内的被选择的位置;以及
使在所述预先定义的区域内的所述被选择的位置的照射的时序与所述光栅扫描的时序相关以确定所述被选择的位置的坐标位置。
2.根据权利要求1所述的方法,
所述照射包括:
使用在所述光栅扫描中从所述扫描平台反射的光束照射所述预先定义的区域;
从所述光束生成脉冲;
且所述相关包括:
至少部分基于刷新帧、水平同步信号、或垂直同步信号、或其组合,使所生成的脉冲的时序与所述光栅扫描的时序相关。
3.根据权利要求1所述的方法,所述照射包括:
使用在所述光栅扫描中从所述扫描平台反射的光束照射所述预先定义的区域;
从所述预先定义的区域反射所述光束;
检测所反射的光束;以及
从所反射的光束生成脉冲;
且所述相关包括:
至少部分基于刷新帧、水平同步信号、或垂直同步信号、或其组合,使所生成的脉冲的时序与所述光栅扫描的时序相关。
4.根据权利要求1所述的方法,其中当所述照射器接近投影图像时,所述照射生成具有较短的持续时间的脉冲,且当所述照射器远离所述投影图像时,所述照射生成具有较长的持续时间的脉冲,所述方法进一步包括:
至少部分基于所生成的脉冲的持续时间来确定所述照射器的Z坐标位置。
5.一种设备,包括:
扫描光束显示器,所述扫描光束显示器通过扫描光束在预先定义的区域上使用扫描平台生成光栅扫描;
光电检测器,所述光电检测器检测在所述预先定义的区域内的被选择的位置的通过输出光束的照射;以及
相关电路,所述相关电路使所述光电检测器的照射的时序与所述光栅扫描的时序相关以确定所述被选择的位置的坐标位置。
6.根据权利要求5所述的设备,其中所述相关电路布置在触笔内,且进一步包括传输电路,所述传输电路向主装置,或所述扫描光束显示器的显示控制器,或其组合传输选择的区域的坐标位置。
7.根据权利要求5所述的设备,其中所述相关电路布置在触笔内,且进一步包括:
向所述相关电路传输所述光栅扫描的时序的发光二极管。
8.根据权利要求5所述的设备,其中所述扫描平台包括MEMS扫描仪,且所述输出光束包括激光光束。
9.一种设备,包括:
扫描光束显示器,所述扫描光束显示器通过扫描光束在预先定义的区域上使用扫描平台生成光栅扫描;
反射器,所述反射器反射在预先定义的区域内的被选择的位置的通过输出光束的照射;
光电检测器,所述光电检测器检测在所述预先定义的区域内的被选择的位置的通过输出光束的照射;以及
相关电路,所述相关电路使所述光电检测器的照射的时序与所述光栅扫描的时序相关以确定所述被选择的位置的坐标位置。
10.根据权利要求9所述的设备,其中所述相关电路包含在所述扫描光束显示器中的显示控制器中,所述显示控制器被耦合以接收所述光电检测器的输出。
11.根据权利要求9所述的设备,其中所述扫描平台包括MEMS扫描仪,且所述输出光束包括激光光束。
12.一种方法,包括:
通过输出光束的光栅扫描使用扫描光束显示器将图像投影到投影表面上;以及
通过检测在所投影的图像中的照射点和使所述点的照射的时序与所述光栅扫描的时序相关来确定所述扫描光束显示器的位置。
13.根据权利要求12所述的方法,其中在所投影的图像中检测照射点包括检测通过布置在所述照射点的反射器的所述输出光束的反射。
14.根据权利要求12所述的方法,其中在所投影的图像中检测照射点包括使用布置在所述照射点的光电检测器来检测来自所述输出光束的所述照射点的照射。
15.根据权利要求12所述的方法,进一步包括确定从所述扫描光束显示器中投影的所投影的图像相对于从另一扫描光束显示器投影的另一个被投影的图像的位置的位置。
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