[发明专利]光检测装置及图像显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及光检测装置及图像显示装置，例如涉及利用受光元件测定外界的照度的装置。 

背景技术

利用照度计，例如调节液晶画面的背光源的亮度或者自动点亮路灯等，测定外界的亮度而控制对象。 

在这样的照度计上，采用将接受的光的强度(光强度)变换为与之对应的电流的受光元件。 

但是，由于用作受光元件的材料的硅(Si)对红外光具有灵敏度的峰值，为了使传感器得到针对例如可见光、紫外光等规定波长区域的光的灵敏度，组合两个受光元件而得到所希望的光谱特性，该两个受光元件的光谱特性不同，即在该波长区域有差分，而在其它区域截断输出。 

如此，通过适当地组合光谱特性不同的受光元件，能够检测出可见光中的光而实现接近肉眼的光谱特性，或者探测紫外光。 

作为这样组合两个受光元件而得到所希望的光谱特性的技术，有以下专利文献1的“半导体光检测装置”。 

专利文献1：日本特开平1-207640号公报 

该技术中，在P型衬底上形成两个不同深度的N型层来形成两个不同光谱特性的光电二极管，通过取得两者的电流差分来探测紫外区域的光。 

发明内容

但是，在传统技术中，在改善SN比而提高灵敏度时，需要增大受光元件的电流，为此需要增大受光元件本身。 

如果受光元件增大，则存在形成该受光元件的IC芯片也大型化，难以进行传感器的小型化的问题。 

因此，本发明的目的在于提供小型且灵敏度良好的光检测装置等。 

本发明为了达成上述目的，在第1方面的发明中，提供一种光检测装置，其特征在于具备：根据入射的光发生电荷的受光元件；将所述发生的电荷蓄积在所述受光元件的蓄积单元；以及输出与蓄积在所述蓄积单元的所希望波长的入射光对应的电荷的电荷量的输出单元。 

在第2方面的发明中，根据第1方面提供的光检测装置，其特征在于：具备对入射到所述受光元件的所述希望波长的入射光以外的光进行遮光的遮光单元，所述输出单元输出蓄积在所述蓄积单元的电荷量作为与所希望波长的入射光对应的电荷的电荷量。 

在第3方面的发明中，根据第1方面或第2方面提供的光检测装置，其特征在于：所述蓄积单元使所述受光元件的规定电极成为电气开路端，从而使所述电荷蓄积。 

在第4方面的发明中，根据第3方面提供的光检测装置，其特征在于：所述受光元件的所述规定电极经由规定开关连接到恒压源，该恒压源用于将蓄积在这些受光元件中的电荷复位，所述蓄积单元通过截止所述开关，使所述规定电极成为电气开路端。 

在第5方面的发明中，根据第3方面提供的光检测装置，其特征在于：具备复位单元，通过将所述受光元件的所述规定电极连接到规定恒压源，该复位单元将蓄积在所述受光元件的电荷复位。 

在第6方面的发明中，根据第1方面提供的光检测装置，其特征在于：所述受光元件利用第一受光元件和第二受光元件构成，其中第一受光元件设有对入射的所述所希望波长的入射光以外的光进行遮光的第一遮光单元，该第二受光元件设有对入射的光进行遮光的第二 遮光单元，所述蓄积单元使所述发生的电荷蓄积于所述第一受光元件和所述第二受光元件，所述输出单元具备取得蓄积在所述第一受光元件和所述第二受光元件的电荷量的差分的差分取得单元，并将该差分作为与所述所希望波长的入射光对应的电荷的电荷量加以输出。 

在第7方面的发明中，根据第6方面提供的光检测装置，其特征在于：所述第一受光元件和所述第二受光元件中受光和蓄电的特性相同。 

在第8方面的发明中，根据第1方面提供的光检测装置，其特征在于：所述受光元件利用第一受光元件和具有不同于所述第一受光元件的光谱特性的第二受光元件构成，所述蓄积单元使所述发生的电荷蓄积到所述第一受光元件和所述第二受光元件，所述输出单元具备取得蓄积在所述第一受光元件和所述第二受光元件的电荷量的差分的差分取得单元，并将该差分作为与所希望波长的入射光对应的电荷的电荷量加以输出。 

在第9方面的发明中，提供一种光检测装置，其特征在于具备：根据接受的光发生电荷的第一受光元件；根据接受的光发生电荷且具有不同于所述第一受光元件的光谱特性的第二受光元件；使所述发生的电荷蓄积于所述第一受光元件和所述第二受光元件的蓄积单元；取得蓄积在所述第一受光元件和所述第二受光元件的电荷的差分的差分取得单元；以及输出所述取得的差分的差分输出单元。