[发明专利]图像处理方法、装置以及断层摄影装置有效
申请号: | 200880124307.5 | 申请日: | 2008-01-11 |
公开(公告)号: | CN101909525A | 公开(公告)日: | 2010-12-08 |
发明(设计)人: | 藤田明德;陈延伟;段桂芳 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所;学校法人立命馆 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;G06T1/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 李贵亮 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 处理 方法 装置 以及 断层 摄影 | ||
1.一种图像处理方法,对断层图像进行处理,其特征在于:
以断层图像为对象进行伪影的特征量分析,由此分割为包含伪影的像素群和不包含伪影的像素群,仅对所述包含伪影的像素群实施与修正有关的指定处理,由此进行去除伪影的修正处理。
2.根据权利要求1所述的图像处理方法,其特征在于:
所述特征量分析是独立成分分析,利用该独立成分分析使与所述伪影对应的图像成分和与所述伪影不对应的图像成分独立并分离,由此分割为包含所述伪影的像素群和不包含所述伪影的像素群。
3.根据权利要求2所述的图像处理方法,其特征在于:
通过消除与所述伪影对应的图像成分,仅对包含所述伪影的像素群实施所述与修正有关的指定处理。
4.根据权利要求3所述的图像处理方法,其特征在于:
设所述断层图像中的断层面为x,y平面,同时设断层图像的各像素值为F(x,y),利用所述x,y将该断层图像F(x,y)分割为Δ个群,由此取得由N个像素构成的要素图像Fi(x,y),通过适用所述独立成分分析,用由所述N个像素构成的基底函数Aj展开各个所述要素图像Fi(x,y),其中,i=1~Δ,j=1~N,
Fi(x,y)=∑j=1Nsji*Aj …(A)
在所述(A)式展开的所述基底函数Aj中,选择与所述伪影对应的基底函数Ah,将与该选择的基底函数Ah对应的成分shi作为与所述伪影对应的图像成分,实施对于通过将该成分shi置换为“0”消除了与伪影对应的图像成分的各个要素图像Fi(x,y)的所述修正处理,通过将该要素图像Fi(x,y)以i=1~Δ的方式排列,取得去除了所述伪影的断层图像,其中,1≤h≤N,适合的h的个数为一个或多个。
5.根据权利要求3所述的图像处理方法,其特征在于:
设所述断层图像中的断层面为x,y平面,同时设断层图像的各像素值为F(x,y),通过将该断层图像F(x,y)变换为极坐标系r,θ的极坐标上的图像F(r,θ),将所述断层图像F(x,y)上的伪影转换为所述图像F(r,θ)上的伪影,利用所述r,θ将该图像F(r,θ)分割为Δ个群,由此取得由N个像素构成的要素图像Fi(r,θ),通过适用所述独立成分分析,用由所述N个像素构成的基底函数Aj展开各个所述要素图像Fi(r,θ),其中,i=1~Δ,j=1~N,
Fi(r,θ)=∑j=1Nsji*Aj …(B)
在所述(B)式展开的所述基底函数Aj中,选择与所述伪影对应的基底函数Ah,将与该选择的基底函数Ah对应的成分shi作为与所述伪影对应的图像成分,实施对于通过将该成分shi置换为“0”消除了与伪影对应的图像成分的各个要素图像Fi(r,θ)的所述修正处理,将该要素图像Fi(r,θ)以i=1~Δ的方式排列后得到图像F(r,θ),通过将该图像F(r,θ)逆变换为直角坐标系x,y的直角坐标上的断层图像F(x,y),取得去除了所述伪影的断层图像,其中,1≤h≤N,合适的h的个数为一个或多个。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的图像处理方法,其特征在于:
通过对包含所述伪影的像素群实施平滑化滤波,仅对包含所述伪影的像素群实施所述与修正有关的指定处理。
7.根据权利要求6所述的图像处理方法,其特征在于:
所述特征量分析是独立成分分析,利用该独立成分分析使与所述伪影对应的图像成分和与所述伪影不对应的图像成分独立并分离,由此分割为包含所述伪影的像素群和不包含所述伪影的像素群,对于与所述伪影对应的图像成分实施所述平滑化滤波,由此仅对包含所述伪影的像素群实施所述与修正有关的指定处理。
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