[发明专利]纳米结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200880126070.4 申请日: 2008-01-30
公开(公告)号: CN101933140A 公开(公告)日: 2010-12-29
发明(设计)人: S-Y·王;M·R·T·谭 申请(专利权)人: 惠普发展公司;有限责任合伙企业
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L29/06;B82B1/00;B82B3/00;C23C16/00;G05F1/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 李玲
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 纳米 结构 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种纳米结构(10,10’,10”,10”’),包括:

高度导电的微晶层(18),所述高度导电的微晶层(18)包括微晶材料和金属;

双极纳米线(16),所述双极纳米线(16)具有一个附接到所述高度导电的微晶层(18)的末端;以及

其它的层(18,30),所述其它的层(18,30)附接到所述双极纳米线(16)的另一个末端。

2.如权利要求1所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),其特征在于,

所述双极纳米线(16)是在所述高度导电的微晶层(18)与所述其它的层(18,30)之间是随机地取向的。

3.如权利要求1或2所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),其特征在于,

所述双极纳米线(16)包括第一导电类型的第一部分(S1)以及第二导电类型的第二部分(S3),所述第二导电类型不同于所述第一导电类型。

4.如权利要求3所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),其特征在于,

所述双极纳米线(16)还包括位于第一和第二部分(S1,S3)之间的第三部分(S2),其中所述第三部分(S2)是未掺杂的本征半导体区域。

5.如权利要求1到4中任一项所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),还包括:

位于所述高度导电的微晶层(18)与所述其它的层(18,30)之间的多个双极纳米线(16),其中所述多个双极纳米线(16)中的每一个都包括第一导电类型的第一部分(S1)以及第二导电类型的第二部分(S3),所述第二导电类型不同于所述第一导电类型。

6.如权利要求5所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),还包括:

设立于相邻的双极纳米线(16)之间的材料(34),其中所述材料(34)选自氟化钙、氮化硅、二氧化硅、碳化硅、旋装玻璃以及它们的组合。

7.如权利要求1到6中任一项所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),还包括:

基板(14),所述高度导电的微晶层(18)被设立于所述基板(14)上;以及

设立于所述高度导电的微晶层(18)与所述基板(14)之间的导电氧化物层(32)。

8.如权利要求1到7中任一项所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),还包括:

形成于所述双极纳米线(16)的第一和第二部分(S1,S3)之间的量子阱。

9.如权利要求1到8中任一项所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),其特征在于,

所述高度导电的微晶层(18)包括硅化物、锗化物、或硅与锗的合金。

10.如权利要求1到9中任一项所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),其特征在于,

所述高度导电的微晶层(18)具有约1μohm/cm到约100μohms/cm的电阻率。

11.一种用于制造纳米结构(10,10’,10”,10”’)的方法,包括:

形成高度导电的微晶层(18);以及

生长双极纳米线(16),使得所述双极纳米线(16)的一个末端附接到所述高度导电的微晶层(18),并且所述双极纳米线(16)的另一个末端附接到其它的层(18,30)。

12.如权利要求11所述的方法,还包括:

从所述高度导电的微晶层(18)生长多个双极纳米线(16);

在相邻的双极纳米线(16)之间以及在所述多个双极纳米线(16)中的每一个的另一个末端之上设立材料(34);

除去所述材料(34),使得所述多个双极纳米线(16)中的每一个的一个末端露出来;以

设立所述其它的层(18,30),使得它附接到所述多个双极纳米线(16)中的每一个的露出的末端。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于惠普发展公司;有限责任合伙企业,未经惠普发展公司;有限责任合伙企业许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200880126070.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top