[发明专利]纳米结构及其制造方法有效
申请号: | 200880126070.4 | 申请日: | 2008-01-30 |
公开(公告)号: | CN101933140A | 公开(公告)日: | 2010-12-29 |
发明(设计)人: | S-Y·王;M·R·T·谭 | 申请(专利权)人: | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
主分类号: | H01L23/48 | 分类号: | H01L23/48;H01L29/06;B82B1/00;B82B3/00;C23C16/00;G05F1/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 李玲 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 纳米 结构 及其 制造 方法 | ||
1.一种纳米结构(10,10’,10”,10”’),包括:
高度导电的微晶层(18),所述高度导电的微晶层(18)包括微晶材料和金属;
双极纳米线(16),所述双极纳米线(16)具有一个附接到所述高度导电的微晶层(18)的末端;以及
其它的层(18,30),所述其它的层(18,30)附接到所述双极纳米线(16)的另一个末端。
2.如权利要求1所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),其特征在于,
所述双极纳米线(16)是在所述高度导电的微晶层(18)与所述其它的层(18,30)之间是随机地取向的。
3.如权利要求1或2所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),其特征在于,
所述双极纳米线(16)包括第一导电类型的第一部分(S1)以及第二导电类型的第二部分(S3),所述第二导电类型不同于所述第一导电类型。
4.如权利要求3所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),其特征在于,
所述双极纳米线(16)还包括位于第一和第二部分(S1,S3)之间的第三部分(S2),其中所述第三部分(S2)是未掺杂的本征半导体区域。
5.如权利要求1到4中任一项所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),还包括:
位于所述高度导电的微晶层(18)与所述其它的层(18,30)之间的多个双极纳米线(16),其中所述多个双极纳米线(16)中的每一个都包括第一导电类型的第一部分(S1)以及第二导电类型的第二部分(S3),所述第二导电类型不同于所述第一导电类型。
6.如权利要求5所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),还包括:
设立于相邻的双极纳米线(16)之间的材料(34),其中所述材料(34)选自氟化钙、氮化硅、二氧化硅、碳化硅、旋装玻璃以及它们的组合。
7.如权利要求1到6中任一项所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),还包括:
基板(14),所述高度导电的微晶层(18)被设立于所述基板(14)上;以及
设立于所述高度导电的微晶层(18)与所述基板(14)之间的导电氧化物层(32)。
8.如权利要求1到7中任一项所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),还包括:
形成于所述双极纳米线(16)的第一和第二部分(S1,S3)之间的量子阱。
9.如权利要求1到8中任一项所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),其特征在于,
所述高度导电的微晶层(18)包括硅化物、锗化物、或硅与锗的合金。
10.如权利要求1到9中任一项所述的纳米结构(10,10’,10”,10”’),其特征在于,
所述高度导电的微晶层(18)具有约1μohm/cm到约100μohms/cm的电阻率。
11.一种用于制造纳米结构(10,10’,10”,10”’)的方法,包括:
形成高度导电的微晶层(18);以及
生长双极纳米线(16),使得所述双极纳米线(16)的一个末端附接到所述高度导电的微晶层(18),并且所述双极纳米线(16)的另一个末端附接到其它的层(18,30)。
12.如权利要求11所述的方法,还包括:
从所述高度导电的微晶层(18)生长多个双极纳米线(16);
在相邻的双极纳米线(16)之间以及在所述多个双极纳米线(16)中的每一个的另一个末端之上设立材料(34);
除去所述材料(34),使得所述多个双极纳米线(16)中的每一个的一个末端露出来;以及
设立所述其它的层(18,30),使得它附接到所述多个双极纳米线(16)中的每一个的露出的末端。
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