[发明专利]光学组件和磨损传感器

说明书

技术领域

本发明涉及一种光学组件以及磨损传感器。所述光学组件可以不专用在用于测量磨损的设备中。具体而言，但并非排他性地，所述设备用于就地(in-situ)测量磨损板上的磨损。

背景技术

硬化材料的板常常用于使对一个装备的结构元件的磨损效应最小化。磨损板的材料被选择为抗磨损。磨损板充当牺牲元件，使得板而不是装备的结构元件受到磨损。

在监控并确定磨损板的磨损程度时出现难题，例如因为板处于难以接近的位置。因此，难以确定磨损板更换的确切时间，这是因为期望使用磨损板来使得其寿命而不是故障程度最大化。因此，需要一种用于经受磨损的系统的磨损传感器。

磨损还发生在其它机械组件上，尤其是在严苛条件下工作的机械组件。一般不能在组件故障或停机期间的拆解/检查之前确定某些组件的磨损程度。

在申请人的在先申请(例如WO2006/081610和WO2007/128068)中，描述了用于测量系统经受的磨损的量的各种设备。

显然应当理解，虽然在此引用了现有技术使用和公布，但这种引用并不意味着引用中的任一种在澳大利亚或任何其它国家形成本领域公知常识的一部分。

发明内容

在本发明的陈述以及接下来的本发明的描述中，除了上下文因表述语言或必要内涵而另外需要之外，词语“包括”或变化形式(诸如“包含”或“含有”)是在包括的意义上使用的，也就是说，指定所陈述的特征的存在性，但不排除本发明各个实施例中其它特征的存在性和附加性。

根据本发明的第一方面，提供一种用于测量磨损的设备，所述设备包括：

主体，在第一端处具有可磨损部分；以及

主体的导光区域，

其中，导光区域在可磨损部分内具有反射部分，

其中，反射部分被配置为使被引导经过所述导光部分并且在所述反射部分处的光沿着所述导光部分向后反射，其中，由反射部分反射的光的一个或更多个特性与可磨损部分的磨损的程度有关。

在一个实施例中，所述特性中的一个是所反射的光的量。

在一个实施例中，所述设备包括用于发射光的光源，所述光被引导为经过所述导光部分朝向所述反射部分行进。

在实施例中，所述设备包括用于测量所反射的光的量的检测器。

在又一实施例中，反射部分包括朝向主体的第一端变窄的渐缩形状。

在又一实施例中，主体为紧固件的形式。在另一实施例中，主体为探针的形式。

在另一实施例中，主体还包括外螺纹，使得可被固定在磨损板系统的磨损板的孔内。

在实施例中，反射部分由一个或更多个反射元件形成，所述一个或更多个反射元件随着所述可磨损部分磨损而剥落(ablation)，使得所述一个或更多个反射元件的剥落减少反射部分的反射量。

在另一实施例中，所述一个或更多个反射部分包括圆锥形金属表面。

在实施例中，导光区域包括光学组件。

在实施例中，光学组件包括一个或更多个反射元件。

在实施例中，所述一个或更多个反射元件被布置为围绕所述主体的纵向轴线至少部分地轴向延伸。

在实施例中，所述一个或更多个反射元件被布置为围绕所述主体的长度弓形地延伸。

在实施例中，所述一个或更多个反射元件包括沿着主体的长度以间隔开的关系延伸的多个面，其中，当从与第一端相对的第二端观看主体时，反射元件中的两个或更多个共同形成合成反射区域。

在实施例中，所述一个或更多个反射元件的每一个都纵向分隔开，并且具有不同尺度的孔洞或空隙。

在实施例中，所述一个或更多个反射元件中的每一个都形成所述反射部分的至少部分边界。

在实施例中，所述反射部分的孔随着反射部分的长度被缩减而扩大，使得所述反射区域相应减小。

在实施例中，所述反射元件相对于主体的纵向轴线纵向地并且横向地分隔开。

在实施例中，所述反射元件与反射性相对较弱的元件形成对比。

在实施例中，所述反射性相对较弱的元件是标记，所述反射元件是标记之间的空白。

在实施例中，所述一个或更多个特性包括反射部分中剩余的反射元件的数量，或者与该数量有关。

在实施例中，反射部分包括多个标记，所述多个标记沿着可磨损部分的长度并且与可磨损部分的长度交叉地分隔开，使得从主体的第二端能够看见每个标记，所述标记被布置为使得：随着可磨损部分的长度由于所述对象的磨损而磨损，所述标记相继磨损。

根据本发明第二方面，提供一种磨损传感器，包括：

光源；

光接收机，被配置为测量入射光；