[发明专利]谐振体晶体管和振荡器有效
申请号: | 200880126205.7 | 申请日: | 2008-12-11 |
公开(公告)号: | CN101939906A | 公开(公告)日: | 2011-01-05 |
发明(设计)人: | D·温斯坦;S·A·巴韦 | 申请(专利权)人: | 康奈尔大学 |
主分类号: | H03B5/12 | 分类号: | H03B5/12;H01L21/336;H01L29/78 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈松涛;夏青 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 谐振 晶体管 振荡器 | ||
1.一种谐振体,包括:
反转栅极;
积累栅极;
中心区域;
耦合至所述中心区域的源极触点;
耦合至所述中心区域的漏极触点;
耦合在所述反转栅极与所述中心区域之间的第一电介质层;以及
耦合在所述积累栅极与所述中心区域之间的第二电介质层。
2.根据权利要求1所述的谐振体,其中,所述中心区域包括:
耦合至所述反转栅极和所述积累栅极的有源区域;
耦合至所述源极触点的源极;以及
耦合至所述漏极触点的漏极。
3.根据权利要求2所述的谐振体,其中,所述有源区域包括p型掺杂物。
4.根据权利要求2所述的谐振体,其中,所述有源区域包括n型掺杂物。
5.根据权利要求2所述的谐振体,其中,所述源极和漏极包括p型掺杂物。
6.根据权利要求2所述的谐振体,其中,所述源极和漏极包括n型掺杂物。
7.根据权利要求2所述的谐振体,其中,所述反转栅极至少延伸与所述有源区域长度一样的长度。
8.根据权利要求2所述的谐振体,其中,所述积累栅极至少延伸与所述有源区域长度一样的长度。
9.根据权利要求1所述的谐振体,其中,所述第一电介质层从由氧化物、二氧化硅、氮化硅、钛酸钡锶以及二氧化铪构成的组中选择。
10.根据权利要求1所述的谐振体,其中,所述第二电介质层从由氧化物、二氧化硅、氮化硅、钛酸钡锶以及二氧化铪构成的组中选择。
11.根据权利要求1所述的谐振体,其中,所述第一和第二电介质层具有基本相同的厚度。
12.根据权利要求1所述的谐振体,还包括耦合至所述源极的至少一个反馈电容器。
13.根据权利要求1所述的谐振体,其中,所述谐振体包括从由纵向延伸杆模式、厚度剪切模式、宽度延伸模式、以及厚度延伸模式构成的组中选择的谐振器模式。
14.根据权利要求1所述的谐振体,其中,所述谐振体包括从由矩形、方形、椭圆形、圆形、以及六边形构成的组中选择的形状。
15.一种谐振体晶体管,包括:
反转栅极电极;
积累栅极电极;
源极电极;
漏极电极;
多个锚梁;以及
谐振体,所述谐振体通过多个锚梁耦合至且悬挂于所述反转栅极电极、所述积累栅极电极、所述源极电极以及所述漏极电极。
16.根据权利要求15所述的谐振体晶体管,其中,所述谐振体包括:
耦合至所述反转栅极电极的反转栅极;
耦合至所述积累栅极电极的积累栅极;
中心区域;
耦合至所述中心区域及所述源极电极的源极触点;
耦合至所述中心区域及所述漏极电极的漏极触点;
耦合在所述反转栅极和所述中心区域之间的第一电介质层;以及
耦合在所述积累栅极和所述中心区域之间的第二电介质层。
17.根据权利要求16所述的谐振体晶体管,其中,所述中心区域包括:
耦合至所述反转栅极和所述积累栅极的有源区域;
耦合至所述源极触点的源极;以及
耦合至所述漏极触点的漏极。
18.根据权利要求17所述的谐振体晶体管,其中,所述有源区域包括p型掺杂物。
19.根据权利要求17所述的谐振体晶体管,其中,所述有源区域包括n型掺杂物。
20.根据权利要求17所述的谐振体晶体管,其中,所述源极和漏极包括p型掺杂物。
21.根据权利要求17所述的谐振体晶体管,其中,所述源极和漏极包括n型掺杂物。
22.根据权利要求17所述的谐振体晶体管,其中,所述反转栅极至少延伸与所述有源区域长度一样的长度。
23.根据权利要求17所述的谐振体晶体管,其中,所述积累栅极至少延伸与所述有源区域长度一样的长度。
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