[发明专利]光记录介质无效
申请号: | 200880130581.3 | 申请日: | 2008-07-30 |
公开(公告)号: | CN102113054A | 公开(公告)日: | 2011-06-29 |
发明(设计)人: | 三森步美;柳泽琢麿;樋口隆信 | 申请(专利权)人: | 先锋株式会社 |
主分类号: | G11B7/24 | 分类号: | G11B7/24 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;王凯 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 记录 介质 | ||
技术领域
本发明涉及诸如具有大量层叠记录层的光盘的光记录介质。
背景技术
在具有大量层叠记录层的多层光盘中,通常设计各记录层的反射率,使得从各记录层反射回的光量在光束的入射表面上是相同的。同时,多层光盘遭受多重反射。参照,例如,具有图1中所示的八个层叠记录层L0-L7的多层光盘,为了再现作为位于与光盘的光束入射表面最远的目标层的记录层L0,光束会聚在记录层L0上,并且在记录层L0反射。同时,光束还在靠近记录层L0的记录层L1、L2和L3反射。在记录层L1、L2和L3反射的光分别在记录层L2、L4和L6的后表面上形成第一、第二和第三共焦点。这些点产生层间串扰,这在后面被称为多重反射CT。
存在减少多重反射CT的已知常规技术(参看专利文献1至4),其中限定了光盘的多个记录层之间的每个距离,使得相邻记录层之间的至少某些距离彼此不同。
[专利文献1]日本专利特开第No.2001-155380号公报
[专利文献2]日本专利特开第No.2006-40456号公报
[专利文献3]日本专利特开第No.2006-59433号公报
[专利文献4]日本专利特开第No.2006-252752号公报
发明内容
本发明要解决的问题
即使最简单的技术也要求两种层间距离。这导致了光盘的制造方法的复杂性,由此降低了产量并且增加了制造成本。下面详细描述所述复杂性。
通常采用使用膜片材(film sheet)的技术和旋涂技术来形成多层光盘的中间层。使用片材的技术实现了层间距离的误差(从所设定的层间距离的偏移)的减少。同时,该技术要求多种片材,以限定多个层间距离,并且应当为各记录层而改变片材种类,由此降低了产量。在旋涂技术中,通过调整参数(如,要滴落的树脂量和锭子的转数)可以改变层间距离。但是,通常这些参数被非常严格地调整。因此,在很多情况下,即使周围环境(如,温度和湿度)的轻微改变也会产生层间距离的很大误差。应当合适地调整参数,以减少层间距离的误差。进一步地,如果要限定多种层间距离,则应当多次调整参数。这导致了光盘制造方法的复杂性(复杂性导致产量降低),由此导致增加了制造成本(如上所述)。
如果上述多层光盘具有不均匀的层间距离,则在进行层间跳跃时,用于记录和再现该光盘的驱动装置应当为各记录层改变物镜的移动量、球面像差校正量等,这导致了复杂的控制逻辑。
上述问题是本发明要解决的问题的一个示例。本发明旨在提供具有大量记录层的光记录介质(该光记录介质的结构比常规结构简单,并且能够减少多重反射)。
解决问题的手段
根据权利要求1所述的本发明的光记录介质是具有至少三个层叠记录层的多层光记录介质。在该光记录介质中,记录层离用于读取的光束的入射表面越远,在记录层反射之后到达入射表面的反射光量越小。
最佳实施方式
在根据权利要求1所述的本发明的光记录介质中,记录层离入射表面越远,从记录层反射回的光量越少。这实现了在再现位于更远离所述表面的层的过程中的多重反射CT的减少。因此,改善了位于更远离所述表面的层的抖动值。
具体实施方式
将参照附图详细描述本发明的示例。
图2是示出了根据本发明的光盘的截面结构的图。光盘是一种20层光盘,并且包括基板1;记录层L0至L19,各记录层由其上形成坑序列(pit sequence)的反射膜组成;以及记录层之间的中间层2。当从基板1看时,按该顺序设置记录层L0至L19。由紫外线固化树脂制成的中间层2放置在记录层L0至L19之间。通过中间层2将记录层(最近层)L19放置在最靠近光盘表面(激光束照射在其上)的位置。记录层L0至L19由电介质(如,Nb2O5和TiO2)制成。
如图3所示,从记录层L0至L19反射回到光盘的光束的入射表面的光量按从记录层L19至记录层L0的顺序减少。
确定各个记录层L0至L19的反射率,以满足下述内容。作为一个示例,从记录层L19、L18和L17反射回的光量分别是进入光盘的光量的1.20%、1.17%和1.14%。即,为各记录层以大约0.03%(=0.6/19)的减量来改变反射光量。进一步地,从记录层L0反射回的光量是从记录层L19反射回的光量的一半,即,0.06%。
记录层L19至L0的各反射率被设置为1.36%、1.42%...和3.71%,使得记录层离光束的入射表面越远,在记录层反射之后到达光束的入射表面的反射光量越少。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于先锋株式会社,未经先锋株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200880130581.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:伪随机噪声信号产生电路
- 下一篇:多路电源掉电时序控制装置及方法