[发明专利]激光离子化质量分析中的试样导入方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及二英等的微量分析中使用的激光离子化质量分析装置的高灵敏度检测方法及装置，特别是涉及该质量分析中的斜向(斜方)试样导入方法及装置。

背景技术

气相色谱仪/质量分析法，在环境试样等的分析中得到广泛利用，为了提高分析灵敏度，希望在试样的分子密度高的领域对试样分子进行离子化。

图1为表示以往的激光离子化质量分析中的试样导入方法的示意图。

在该图中，101表示色谱仪，102表示试样气体的导入部，103表示配置于导入部102的喷嘴，104表示质量分析装置，105表示试样气体的离子化室，106表示试样气体，107表示对试样气体106中的分子进行照射的离子化用激光器，108表示生成的离子。予以说明的是，C表示生成的离子108的加速电极，D表示离子108的引出电极。

这样，在以往的激光离子化质量分析中的试样导入方法(参照下述专利文献1)中，将从色谱仪101溶出的试样通过与导入部102直交地配置的喷嘴103而导入质量分析装置104。在该质量分析装置104中，在离子化室105中，使对喷嘴103附近的分子密度高的试样气体106中的分子照射离子化用激光器107后而生成的离子108飞行。但是，由于喷出试样气体的轴与生成的离子108飞行而被检测的轴一致地构成，因此在试样气体106的分子的密度高的领域，试样气体106中的原子·分子与生成的离子108碰撞的概率变高。因此，存在离子的行进速度具有分布、进而质量分辨率降低至100左右这样的问题。

专利文献1：专利第3571215号公报

发明内容

如上所述，在以往的试样导入方法中，现状是，不降低质量分辨率地提高了分析灵敏度的激光离子化质量分析没有实现。

本发明，鉴于上述状况，目的在于提供激光离子化质量分析中的试样导入方法和装置，所述试样导入方法可相对于喷出试样气体的轴使生成的离子飞行而进行检测的轴以斜的方向交叉，使试样气体中的原子、分子与离子的碰撞减少，抑制质量分辨率的降低。

附图说明

图1为表示以往的激光离子化质量分析中的试样导入方法的示意图。

图2为表示本发明的实施例的激光离子化质量分析中的斜向试样导入部的示意图。

图3为使用表示本发明的激光离子化质量分析中的斜向试样导入装置的质量分析结果的图。

图4为表示本发明的实施例的使用斜向试样导入装置的激光离子化质量分析装置的整体图。

图5为表示驱动多台使用了表示本发明的实施例的斜向试样导入装置的激光离子化质量分析装置的例子的图。

图6为表示成为利用本发明的质量分析的对象的二英化合物的一个例子的图。

具体实施方式

[1]本发明的激光离子化质量分析中的试样导入方法，使通过离子化用激光器(7)生成的离子(8)飞行而检测出的轴(B)相对于喷出试样气体(6)的轴(A)以斜的方向交叉，使上述离子(8)与上述试样气体(6)中的原子·分子的碰撞减少，抑制质量分辨率的降低。

[2]本发明的激光离子化质量分析中的试样导入装置，具备：将从色谱仪(1)溶出的试样导入的导入部(2)、在该导入部(2)以斜的方向将角度倾斜而配置的喷嘴(3)、从该喷嘴(3)将试样导入的离子化室(5)、对该离子化室(5)中的试样气体(6)进行照射的离子化用激光器(7)、通过上述离子化用激光器(7)对上述试样气体(6)中的分子的照射而生成的离子(8)、使该离子(8)飞行的加速电极(C)和引出电极(D)，使通过离子化用激光器(7)生成的离子(8)飞行而检则出的轴(B)相对于喷出上述试样气体(6)的轴(A)以斜的方向交叉地构成。

实施例

以下对本发明的实施方式详细进行说明。

图2为表示本发明的实施例的激光离子化质量分析中的斜向试样导入装置的示意图。

在该图中，1为色谱仪，2为试样气体的导入部，3为在导入部2以斜的方向配置的喷嘴，4为质量分析装置，5为试样气体的离子化室，6为从喷嘴3导入到质量分析装置4的离子化室5中的试样气体，7为对试样气体6中的分子进行照射的离子化用激光器，8为生成的离子。需要说明的是，C表示生成的离子8的加速电极，D为离子8的引出电极。