[发明专利]荧光图像检测装置以及荧光图像检测方法

权利要求书

1.一种荧光图像检测装置，具备：

激励光源，其激励试样的荧光；

二维检测器，其用于检测从上述试样发出的荧光；

激励侧滤波器，其被配置在上述光源与试样之间；以及

荧光侧滤波器部，其被配置在上述试样与二维检测器之间，用于取出从试样发出的荧光而引导到上述二维检测器，

上述激励侧滤波器具有阻止上述荧光侧滤波器部的透过波长域的光的透过波长频带，

上述荧光侧滤波器部包括干涉滤波器和吸收滤波器，上述干涉滤波器和吸收滤波器被串行配置在上述荧光的行进方向上，上述干涉滤波器和吸收滤波器被组合成：在它们组合得到的透过波长域中包含荧光波长的至少一部分波长并且不包含上述激励侧滤波器的透过波长频带。

2.根据权利要求1所述的荧光图像检测装置，其特征在于，

上述吸收滤波器在上述激励侧滤波器的透过波长频带中的透过率为10％以下。

3.一种荧光图像检测装置，

上述激励光源为单色激励光源，

上述激励侧滤波器的透过波长频带使上述单色激励光源的主波长的光透过，

构成上述荧光侧滤波器部的吸收滤波器在上述单色激励光源的主波长的波长域中具有10％以下的低透过率。

4.根据权利要求3所述的荧光图像检测装置，其特征在于，

上述光源为发射以785nm±10nm为峰值波长的光的半导体激光器，上述吸收滤波器的50％透过波长在800nm～860nm的范围内。

5.根据权利要求3所述的荧光图像检测装置，其特征在于，

上述光源为发射以690nm±10nm为峰值波长的光的半导体激光器，上述吸收滤波器的50％透过波长在720nm～780nm的范围内。

6.根据权利要求3所述的荧光图像检测装置，其特征在于，

上述光源为发射以658nm±10nm为峰值波长的光的半导体激光器，上述吸收滤波器的50％透过波长在690nm～740nm的范围内。

7.根据权利要求3所述的荧光图像检测装置，其特征在于，

上述光源为发射以808nm±10nm为峰值波长的光的半导体激光器，上述吸收滤波器的50％透过波长在820nm～870nm的范围内。

8.一种荧光图像检测方法，利用荧光图像检测装置来检测荧光图像，该荧光图像检测装置具备如下部分：激励光源，其激励试样的荧光；二维检测器，其用于检测从上述试样发出的荧光；激励侧滤波器，其被配置在上述光源与试样之间；以及荧光侧滤波器部，其被配置在上述试样与二维检测器之间，用于取出从试样发出的荧光而引导到上述二维检测器，

该方法使用具有如下透过波长频带的滤波器作为上述激励侧滤波器，该透过波长频带阻止上述荧光侧滤波器部的透过波长域的光，

将干涉滤波器和吸收滤波器串行配置在上述荧光的行进方向上作为上述荧光侧滤波器部，使用如下组合得到的上述干涉滤波器和上述吸收滤波器：在它们组合得到的透过波长域中包含荧光波长的至少一部分波长并且不包含上述激励侧滤波器的透过波长频带。

9.根据权利要求8所述的荧光图像检测方法，其特征在于，

使用单色激励光源作为上述激励光源，

使用具有如下透过波长频带的滤波器作为上述激励侧滤波器，该透过波长频带使上述单色激励光源的主波长的光透过，

使用在上述单色激励光源的主波长的波长域中的透过率为10％以下的滤波器作为上述荧光侧滤波器部的上述吸收滤波器。

10.根据权利要求9所述的荧光图像检测方法，其特征在于，

上述激励光源为发射以785nm±10nm为峰值波长的光的半导体激光器，上述吸收滤波器的50％透过波长在800nm～860nm的范围内。

11.根据权利要求9所述的荧光图像检测方法，其特征在于，

上述激励光源为发射以690nm±10nm为峰值波长的光的半导体激光器，上述吸收滤波器的50％透过波长在720nm～780nm的范围内。

12.根据权利要求9所述的荧光图像检测方法，其特征在于，

上述激励光源为发射以658nm±10nm为峰值波长的光的半导体激光器，上述吸收滤波器的50％透过波长在690nm～740nm的范围内。