[发明专利]利用驻波型超声波分离液体中的颗粒无效
申请号: | 200880131376.9 | 申请日: | 2008-10-08 |
公开(公告)号: | CN102170949A | 公开(公告)日: | 2011-08-31 |
发明(设计)人: | 卡尔·约翰·格伦瓦尔;拉斯·托马斯·劳雷尔;佩尔·奥古斯特森;克劳斯·霍尔姆;雅各布·里斯·弗肯伯格 | 申请(专利权)人: | 福斯分析股份公司;卡尔·约翰·格伦瓦尔;拉斯·托马斯·劳雷尔;佩尔·奥古斯特森 |
主分类号: | B01D43/00 | 分类号: | B01D43/00;B01L3/00 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 李冬梅;郑霞 |
地址: | 丹麦希*** | 国省代码: | 丹麦;DK |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 驻波 超声波 分离 液体 中的 颗粒 | ||
1.一种用于处理样品液体(32)中的颗粒(30)的装置,所述装置包括:能够发射具有给定波长的超声波的超声波源(16)、用于样品液体(2)的进口、一个或多个出口(4,5,6)以及隔室(14),所述隔室被依尺寸设计成支持所述波长的驻波型超声波(40),
其特征在于:所述装置还包括用于鞘液的进口(1,3),所述进口被配置成引导所述鞘液(34)接近具鞘的隔室的壁、基本上平行于所述驻波型超声波(40)的波腹平面(46)延伸。
2.根据权利要求1所述的装置,其中所述隔室(14)沿长度轴延伸,并且所述隔室具有沿宽度轴和高度轴的横截面区域,并且所述隔室(14)的所述宽度支持具有基本上平行于所述长度轴的聚焦平面(44,46)的驻波型声波;所述隔室(14)的所述长度是所述隔室的所述宽度的至少10倍,并且所述隔室(14)的所述高度低于所述驻波的半波长。
3.根据权利要求1所述的装置,其中所述隔室(14)沿长度轴延伸,并且所述隔室(14)具有带宽度轴和高度轴的横截面区域,并且所述隔室(14)的所述横截面支持具有基本上平行于所述长度轴的聚焦平面(44,46)的驻波型声波(40);所述隔室(14)的长度是所述隔室(14)的宽度的至少10倍,所述隔室(14)的高度基本上与所述隔室(14)横截面的宽度相等。
4.根据权利要求1、2或3所述的装置,其中当使用时,所述样品液体(32)和所述鞘液(34)将在所述长度轴的方向上流动。
5.根据权利要求1、2、3或4所述的颗粒处理装置,其中所述超声驻波(40)具有数个波节平面(44,46),所述数个是一个、两个、三个或四个。
6.根据权利要求1、2、3、4或5所述的颗粒处理装置,其中所述出口(4,5,6)的位置和流速的组合被配置成将对应于聚焦平面(44,46)的流引至特定出口(5)。
7.根据前述权利要求1、2、3、4、5或6所述的颗粒处理装置,其中所述超声波源(16)选自由下列各物组成的组:压电陶瓷换能器、压电盐换能器、压电聚合物换能器、压电晶体换能器、磁致伸缩换能器和电磁换能器。
8.根据权利要求1、2、3、4、5、6或7所述的颗粒处理装置,其中所述超声驻波(40)具有100kHz至10MHz范围内的频率。
9.根据权利要求1、2、3、4、5、6、7或8所述的颗粒处理装置,其中当操作时,所述鞘液(34)和所述样品液体(32)之间的密度差小于10%,优选小于5%并且更优选小于2%。
10.根据权利要求1、2、3、4、5、6、7或8所述的颗粒处理装置,其中主鞘液与样品液体的边界(36)的位置、最接近所述液体的边界(36)的一个或多个聚焦平面(44,46)的位置以及所述鞘液(34)和所述样品液体(32)的密度被结合成使得最接近所述鞘液与样品液体的边界(36)且被低密度液体覆盖的所述聚焦平面(44,46)是波腹平面(46)。
11.根据权利要求1、2、3、4、5、6、7、8、9或10所述的颗粒处理装置,其中所述鞘液(34)具有比具有最低密度的所述颗粒(30)低的密度。
12.根据权利要求1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11或12所述的颗粒处理装置,其中所述鞘液(34)包括洗涤剂。
13.根据权利要求1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12或13所述的颗粒处理装置,其中所述鞘液(34)包括非极性溶剂。
14.一种系统,包括根据权利要求1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12或13所述的颗粒处理装置以及一个或多个颗粒检测设备和/或计数设备(50)。
15.根据权利要求14所述的系统,其中所述颗粒检测设备和/或计数设备(50)检测和/或计数未标记的颗粒。
16.根据权利要求14或15所述的系统,其中所述颗粒检测设备(50)根据选自由下列项组成的组的检测原理来操作:光学阻塞、光散射、光学显微术、相衬显微术、自体荧光、阻抗或流式细胞术。
17.根据权利要求14所述的系统,其中所述颗粒检测设备和/或计数设备(50)检测和/或计数标记的颗粒。
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