[发明专利]用于集成电路的电阻调谐的由电磁辐射引起的硅中的同素异形或形态改变有效
申请号: | 200880131681.8 | 申请日: | 2008-09-19 |
公开(公告)号: | CN102203903B | 公开(公告)日: | 2011-09-28 |
发明(设计)人: | F·A·拜奥齐;J·T·卡古;J·M·德卢卡;B·J·杜特;C·马丁 | 申请(专利权)人: | 艾格瑞系统有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01C17/26 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 党建华 |
地址: | 美国宾*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 集成电路 电阻 调谐 电磁辐射 引起 中的 异形 形态 改变 | ||
1.一种电子器件,包括:
基板;
所述基板上的电介质层;和
位于所述基板和所述电介质层之间的电阻链接,所述电阻链接包 含具有第一电阻区域和第二电阻区域的半导体层,所述第一电阻区域 具有第一电阻率和第一形态,并且,所述第二电阻区域具有第二电阻 率和不同的第二形态,并且其中,所述第一电阻区域具有第一同素异 形状态,并且,所述第二电阻区域具有不同的第二同素异形状态。
2.如权利要求1所述的电子器件,其中,所述第二同素异形状态 是所述半导体层的非晶同素异形体。
3.如权利要求1所述的电子器件,其中,所述第一电阻区域包含 作为所述基板的晶格的延伸的结晶区域,并且,所述第二电阻区域包 含多晶区域或非晶区域。
4.如权利要求1所述的电子器件,其中,所述第一电阻区域和所 述第二电阻区域是多晶的,并且,所述第二电阻区域的平均晶粒尺寸 为所述第一电阻区域的平均晶粒尺寸的10%或更小。
5.一种制造电子器件的方法,包括:
提供上面具有电介质层的基板,和所述基板与所述电介质之间的 电阻链接,其中,所述电阻链接包含具有第一形态的半导体层;
用电磁辐射照射所述电阻链接;
通过所述照射将所述电阻链接的一部分从所述第一形态转变成所 述半导体层的不同的第二形态,其中,所述第一形态具有第一同素异 形状态,并且,所述第二形态具有不同的第二同素异形状态。
6.如权利要求5所述的方法,其中,所述第二形态是所述半导体 层的非晶同素异形体。
7.如权利要求6所述的方法,还包含然后将具有所述不同的第二 形态的所述电阻链接的所述部分的至少一部分从所述非晶同素异形体 转变成多晶同素异形体的步骤。
8.如权利要求5所述的方法,其中,所述第一同素异形状态是从 所述基板的晶格延伸的所述半导体层的单晶。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于艾格瑞系统有限公司,未经艾格瑞系统有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200880131681.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:喷墨用光固化型墨组合物以及喷墨记录方法和记录物
- 下一篇:一种半桥功率模块
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造