[发明专利]成像装置校准系统和方法无效

专利信息
申请号: 200880131787.8 申请日: 2008-10-30
公开(公告)号: CN102203680A 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: S·莫亚莱姆;E·谢勒夫;S·哈鲁什;M·纳曼-齐夫 申请(专利权)人: 惠普开发有限公司
主分类号: G03G15/00 分类号: G03G15/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 刘金凤;王洪斌
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 成像 装置 校准 系统 方法
【说明书】:

背景技术

无论彩色打印机的类型如何,颜色校准都是彩色打印机和其它类型的装置的重要处理。颜色校准保持了具体打印机之间、打印作业之间以及各天之间等的颜色一致性。校准在保持诸如公司标识、单个打印作业的多次打印的产品以及各种作业的产品中的颜色的关键颜色时,是尤其重要的。现代彩色打印机可以产生良好的颜色输出,但是颜色易于随着时间而漂移,从而给用户带来不一致性和其它问题。诸如消耗品之间的差异和例如温度和湿度的环境参数的变化的许多因素影响打印装置中的颜色准确度和一致性。由于该原因,应当周期性地进行颜色校准。

为了执行颜色校准,有必要使用诸如密度计或分光计的颜色测量装置。这些仪器测量摄影的或半透明的材料或者反射表面的暗度(光学密度),即与入射角不同的角度中的反射。例如,仪器在45度角进行照射,而在0度角(光束和表面的法线之间的角度)进行测量。光学密度是特定波长处的测量强度Rm和发光强度Rin之间的比的对数,如下所示:

在忽略介质的影响的情况下,光学密度是色料层厚度的良好量度。色料的光学密度可以收到介质的光学密度的高度影响。

然而,现有的颜色校准方法对于高光学密度介质来说是无法使用的并且不能应对高光学密度介质的独特特性,所述高光学密度介质例如是高光泽的(高镜面反射、低漫反射)、有色的(介质对光的相对高的吸收)、具有暗背景的透明介质以及金属介质等。因此,存在对用于这些类型的介质的颜色校准方法的需要。

附图说明

图1a示出从高光泽介质反射的光的图。

图1b示出从半光泽或无光泽介质反射的光的图。

图2示出根据本发明实施例的供校准的成像装置。

图3示出根据本发明实施例的用于校准成像装置的方法的流程图。

图4A-4B是示出在各个阶段根据本发明的方法进行处理后的示例性介质基底的截面形式的部分侧视图。

图5示出根据本发明实施例的在金属基底上打印的黑色墨层的光学密度的图。

具体实施方式

在以下说明中,为了说明的目的阐述了多个具体细节,以提供对本文的公开内容的一个或多个方面的透彻理解。然而,可能明显的是,本文的公开内容的一个或多个方面可以被实现为具有较少程度的这些具体细节。

本公开涉及尤其针对具有高光学密度的介质的用于成像装置的颜色校准的方法以及用于这种介质上的颜色的校准的系统。在说明书和权利要求书中的此处以及其它地方,可以组合范围和比率极限。

如这里所使用的那样,术语“高光学密度介质”被定义为在被聚焦光束照射时由于高镜面反射或吸收而在其上在测量工具处接收到较少量的光的任意介质,例如金属介质、高光泽介质、具有暗背景的透明介质或任意有色介质。

当前的校准方法依赖于通过利用聚焦光束照射对象并测量从该对象反射的光的强度而实现的对墨层厚度的测量。墨层厚度“/”应当与特定波长处的所测量的强度Rm和发光强度Rin之间的比的对数成比例,如下所示:

测量的角度通常不同于照射的角度,以避免测量不包括许多颜色信息的来自基底表面的反射。通过将光分为不同的波长区域,可以测量颜色。

然而,对高光学密度介质上的颜色进行测量存在困难,这是因为:与如图1B所示从半光泽或无光泽介质反射的、到达测量工具的光量相反,如图1A所示几乎没有光到达测量工具。

参考图2,示出了根据本发明实施例的成像装置200。成像装置200可以被布置作为数字成像装置,所述数字成像装置被配置和设置为在包括例如纸张、标签和幻灯片等的高光学密度介质上施加彩色图像。

成像装置200包括介质给送单元210、图像引擎215和输出处理单元220。可以沿着介质路径225将介质从介质给送单元210传送至图像引擎215以形成图像,并且随后将其输出至输出处理单元220。

在所示的实施例中,成像装置200被配置为使用多个不同的色料将图像施加至介质。在一个实施例中,图像引擎215使用感光鼓230以利用色料来形成并显影图像。可以经由成像鼓235将显影后的彩色图像转印至介质路径225内的介质。与感光鼓230相邻的成像鼓可以被称为毯式鼓(blanket drum)236,而与介质路径220相邻的鼓可以被称为压印鼓237。

图像引擎215可以接纳来自被配置为储存色料的多个储存器245的色料。在一个实施例中,色料可以是液态墨。

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