[发明专利]用于精磨机的控制以改进能量效率和浆体质量的过程和系统有效

专利信息
申请号: 200880132182.0 申请日: 2008-12-01
公开(公告)号: CN102227532A 公开(公告)日: 2011-10-26
发明(设计)人: A·伊萨克森;A·卡尔斯托姆 申请(专利权)人: ABB研究有限公司
主分类号: D21D1/00 分类号: D21D1/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华;姜彦
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 用于 精磨机 控制 改进 能量 效率 体质 过程 系统
【权利要求书】:

1.一种用于控制热机械浆体(TMP)精磨过程段的方法,所述过程段包括至少一个第一精磨机,其具有布置在所述至少一个第一精磨机(33)的精磨机板上预定位置上的多个传感器,所述方法包括:测量,备选地估计,表示针对所述过程段的所述精磨机之外的外部状态(η1,Q1)的一个或多个过程变量;以及测量,备选地估计,表示所述至少一个第一精磨机之内的一个或多个内部状态(ζ1)的一个或多个值,以及操作一个或多个变量(u1)的可能性,其特征在于:借助于数学过程模型,使用所述至少一个精磨机的内部状态(ζ1)的所述测量以及针对所述过程段的所述一个或多个过程外部状态(η1,Q1)的测量,来计算针对所述至少一个精磨机的所述至少一个操纵变量(u1)的改变。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,其中所述数学过程模型由一组具有向量值非线性函数的非线性微分方程或者差分方程来描述。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,其中所述数学过程模型由一组线性微分方程或者差分方程来描述。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,其中所述数学过程模型由拉普拉斯变换和传递函数来描述。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,使用其中所述内部状态是温度(T1)的测量来计算过程改变,所述温度(T1)使用沿所述至少一个精磨机之内的盘的半径的温度测量阵列来计算。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,计算过程改变并且改变至少一个操纵变量,以影响浆体质量(Q1)的测量或者估计的改变。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,计算过程改变并且改变至少一个操纵变量,以影响对所述至少一个第一精磨机的特定能量输入(E1)或者所述至少一个第一精磨机的马达负载(M1)的改变。

8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,使用所述数学过程模型来最小化内部状态和/或外部状态的函数或测量值与参考值之间的偏差。

9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,使用所述数学过程模型来最小化内部状态和/或外部状态的估计值与参考值之间的偏差。

10.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将来自所述至少一个第一精磨机的输出馈送至第二精磨机,以使得所述过程段包括两级精磨机。

11.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,借助于数学模型,使用所述第二精磨机的内部状态(ζ2)的测量以及针对所述过程段的所述一个或多个外部状态(η2,Q2)的测量,计算针对所述第二精磨机的至少一个操纵变量(u2)的过程改变。

12.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,使用针对每个精磨机的内部状态(ζ1,ζ2)的所述至少一个测量和针对每个精磨机的外部状态(η1,η2)的测量以及所述第二精磨机之后的至少质量测量(Q2),来计算包括两个或更多个精磨机的过程段的至少一个操纵变量的过程改变。

13.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,使用针对每个精磨机的内部状态(ζ1,ζ2)的所述测量和针对每个精磨机的外部状态(η1,η2)的测量以及所述第二精磨机的质量测量(Q2),来计算包括两个或更多个精磨机的过程段的至少一个操纵变量的过程改变,以便优化对所述过程段的能量输入。

14.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,使用其中所述内部状态是压力(P1)的测量来计算过程改变,所述压力(P1)使用沿所述至少一个精磨机之内的盘的半径的测量阵列来计算。

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