[其他]用于样本物质分析的设备

权利要求书

1.一种用于样本物质分析的设备，其特征在于，包括：

a.用于从所述样本物质产生离子的离子源；

b.至少两个真空区域，其中，所述真空区域通过隔板彼此分离，其中，所述真空区域彼此连通，使得所述离子移动穿过所述隔板；

c.位于至少一个所述真空区域中的质量分析器，所述质量分析器具有入口轴线，沿着所述轴线，所述离子进入所述质量分析器；

d.位于检测器区域中的质量分析器检测器；

e.至少一个多极离子导引件，包括入口端和出口端，所述多极离子导引件具有沿着所述至少一个多极离子导引件的至少第一部分延伸的第一离子导引件轴线部分，以及沿着所述多极离子导引件的至少第二部分延伸的第二离子导引件轴线部分，所述第二部分包括所述离子导引件出口端，其中，所述离子导引件连续地从一个真空区域延伸入至少一个随后的真空区域，其中，所述离子从所述一个真空区域穿过所述至少一个多极离子导引件进入所述至少一个随后的真空区域并且到达所述出口端；

f.用于将所述离子从所述离子源传送入所述多极离子导引件的所述入口端的装置；以及

g.用于防止背景颗粒到达所述检测器的装置。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，用于防止背景颗粒到达所述检测器的所述装置包括所述第一离子导引件轴线部分，所述第一离子导引件轴线部分不与所述质量分析器的所述入口轴线共轴。

3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述离子导引件第一轴线同轴于所述离子导引件出口轴线，使得所述倾斜或弯折部位于所述离子导引件出口轴线与所述质量分析器入口轴线之间。

4.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述质量分析器入口轴线同轴于所述离子导引件出口轴线，使得所述倾斜或弯折部位于所述多极离子导引件中。

5.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，用于防止背景颗粒进入所述检测器的所述装置包括具有弯曲离子导引件轴线的离子导引件，其中，所述离子导引件入口处的离子导引件轴线和所述质量分析器的所述入口轴 线不处于一条直线上。

6.根据权利要求1-5任一项所述的设备，其特征在于，所述多极离子导引件包括至少两个多极离子导引件区段。

7.根据权利要求1-5任一项所述的设备，其特征在于，所述真空区域包括三个或更多的真空区域。

8.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述真空区域包括三个或更多的真空区域。

9.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述离子源是电喷离子源或者大气压矩阵辅助的激光解吸离子源或者激光烧蚀离子源。

10.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述离子源是辉光放电离子源或者中间压力矩阵辅助激光解吸离子源或者激光烧蚀离子源或者电子离子化离子源或者化学离子化离子源。

11.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述质量分析器是四极质量过滤器或者三维离子收集器或者磁性扇区质量分析器或者具有轴向脉冲的时间计量质量分析器或者具有垂直脉冲的时间计量质量分析器或者具有轴向共振喷射的二维离子收集器。

12.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述多极离子导引件包括四个极或六个极或八个极或多于八个的极。

13.根据权利要求12所述的设备，其特征在于，所述极包括圆杆或平板。

14.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述多极离子导引件包括具有堆叠环离子导引件的多个环。