[发明专利]磁记录介质和磁记录再生设备无效
申请号: | 200910002093.0 | 申请日: | 2009-01-16 |
公开(公告)号: | CN101556804A | 公开(公告)日: | 2009-10-14 |
发明(设计)人: | 井原宣孝;竹下弘人 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G11B5/82 | 分类号: | G11B5/82;G11B5/66;G11B5/667;G11B5/73 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 丁香兰;庞东成 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 记录 介质 再生 设备 | ||
相关申请的交叉引用
本申请基于2008年4月9日提交的在先日本专利申请第2008-101378 号并要求该申请的优先权权利,在此通过引用并入其全部内容。
技术领域
本发明涉及磁记录介质和磁记录再生设备。具体而言,本发明涉及 诸如硬盘等实现高记录密度的磁记录介质,以及包含这样的磁记录介质 的磁记录再生设备。
背景技术
近年来,磁记录介质的存储容量一直在增加。位图介质(bit patterned media)是显著增加磁记录介质的记录密度的技术的一个实例。
在位图介质技术中,为了增加记录密度,已缩短了其轨道间距。不 过,通过缩短轨道间距,读取元件会错误地读取邻近轨道的信息。这增 加了串扰,结果,错误的出现倾向于增加。为了克服该问题,已提出了 如图8所示的将记录位的宽度变窄从而减小串扰的技术(参见,例如日本 特开(JP-A)平03-22211号)。不过,该技术有这样的问题:由于记录位的 体积因位宽度变窄而变小,所以记录因受热波动影响而变得不稳定。
本发明旨在解决常规技术的问题,并实现下述目的。具体而言,本 发明的目的是提供一种具有较少串扰并较少受热波动影响的磁记录介质 和磁记录再生设备。
发明内容
实施方式的一个方面是磁记录介质,所述磁记录介质包含盘状基板 和多个直接或间接形成在所述基板上的记录位,其中所述记录位的底面 被设置成面向所述基板,所述记录位的顶面被设置成与所述记录位的底 面相对,并且Twb大于Twt,其中Twb表示所述底面在磁记录介质的径 向上的宽度,Twt表示顶面在径向上的宽度。
由于在磁记录介质上Twb大于Twt,所以通过降低相邻记录位的磁 力的影响,以及通过在保持记录位的体积的同时降低热波动的影响,可 以减少串扰。
本发明的一个方面是磁记录再生设备,所述磁记录再生设备包含前 述磁记录介质和配置为读取记录在所述磁记录介质上的信息的读取元 件,其中,在读取元件面向两个以上的记录位的情况中,该读取元件与 所述两个以上的记录位之一的顶面和侧面相对,并且该读取元件与其他 的记录位的侧面相对。
由于磁记录再生设备的读取元件仅与除那一个记录位以外的记录位 的侧面相对,所以避免了读取元件错误地读取相邻轨道的信息。
根据本发明,能够解决常规技术中的问题,并且提供了降低串扰和 热波动影响的磁记录介质和磁记录再生设备。
附图说明
图1是显示本发明的磁记录介质上的记录位的结构的实例的示意 图。
图2是显示本发明的磁记录介质上的记录位图案的实例的示意图。
图3A是显示形成本发明的磁记录介质上的记录位的方法的视图(部 分1)。
图3B是显示形成本发明的磁记录介质上的记录位的方法的视图(部 分2)。
图3C是显示形成本发明的磁记录介质上的记录位的方法的视图(部 分3)。
图3D是显示形成本发明的磁记录介质上的记录位的方法的视图(部 分4)。
图3E是显示形成本发明的磁记录介质上的记录位的方法的视图(部 分5)。
图4A是显示形成本发明的磁记录介质上的记录位的方法的视图(部 分6)。
图4B是显示形成本发明的磁记录介质上的记录位的方法的视图(部 分7)。
图4C是显示形成本发明的磁记录介质上的记录位的方法的视图(部 分8)。
图5A是显示形成本发明的磁记录介质上的记录位的方法的视图(部 分9)。
图5B是显示形成本发明的磁记录介质上的记录位的方法的视图(部 分10)。
图5C是显示形成本发明的磁记录介质上的记录位的方法的视图(部 分11)。
图6是解释读取元件和记录位的排列的视图。
图7是显示串扰和记录位的轨道间距之间的关系的图。
图8是显示常规磁记录介质上的记录位的结构的示意图。
具体实施方式
(磁记录介质)
本发明的磁记录介质包含基板和记录位,如果需要,还可以包含其 他层。
应当注意,此处和所附权利要求书中所用的单数形式包括复数意义, 除非上下文中明确指出并非如此。
-基板-
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