[发明专利]有机EL显示装置有效
申请号: | 200910002220.7 | 申请日: | 2009-01-08 |
公开(公告)号: | CN101483031A | 公开(公告)日: | 2009-07-15 |
发明(设计)人: | 河野亨;秋元肇;笠井成彦;石井雅人 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立显示器 |
主分类号: | G09G3/32 | 分类号: | G09G3/32 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 有机 el 显示装置 | ||
技术领域
本发明涉及有机EL显示装置,尤其涉及具有能够对温度特性进 行校正和对画面余像进行校正的系统的有机EL显示装置。
背景技术
有机EL显示装置与液晶相比具有如下等特征:由于为自发光型, 因此不需要背光源,响应时间为短短的数微秒,动态图像特性优异, 发光所需的电压为较低的10V以下,具有能够减少功耗的可能性。 另外,与等离子体显示装置、FED显示装置相比具有如下等特征: 不需要真空结构,适于降低重量、减薄厚度。
构成作为有机EL显示装置的画面的有机EL显示面板的OLED 元件具有温度特性。OLED元件即使施加相同的电压,在低温时电 流也较小,在高温时电流较大。因此,为了获得相同的亮度,需要 根据外部环境的温度来改变电源电压。“专利文献1”中记载了如下 技术:为了检测有机EL显示面板的温度变动,对通过从电流源向面 板内的各OLED元件流过电流而获得的检测电压结果进行A/D变换, 根据得到的数字数据使显示用电压源变化。
有机EL显示装置的另一个问题是所谓的余像问题。这是OLED 元件随着工作时间而发光亮度降低这样的现象。OLED元件的特性 变化表现为OLED元件的电压-电流特性的变化。即,随着工作时 间而即使施加相同的电压,流过的电流也会变小。OLED元件的时 间性特性的变化因每个像素而不同。因此,为了进行正确的图像显 示,需要检测各像素的OLED元件的特性变化,将其结果反馈至从 主机输入的输入信号。
“专利文献2”记载了如下技术:为了使有机EL显示面板进行 没有余像的稳定的发光,对通过电流测量得到测定结果进行A/D变 换,根据获得的数字数据对OLED元件的驱动信号进行反馈。
专利文献1:日本特开2006-48011号公报
专利文献2:日本特开2005-156697号公报
发明内容
“专利文献1”记载的技术通过使电源电压变化来调整有机EL 显示面板整体的特性,因此能够补偿基于温度特性的影响,但不能 校正余像那样的局部劣化。“专利文献2”记载的技术中,比较通过 电流检测获得的相邻像素彼此的结果,因此无法对面板内部的温度 变动的信息进行A/D变换。
有机EL显示面板上发生余像时的OLED元件电压变化微小,基 于温度变动的电压变化较大,因此当要在系统中生成还包含温度变 动的AD变换的电压范围时,需要数量较多的高精度比较器,因此 电路规模增大,功耗变大。
本发明的课题在于实现一种系统,能够不伴随电路规模的增大 和功耗的增大而同时进行OLED元件的温度特性的补偿和对余像的 补偿。
本发明是解决以上课题的发明,是包括将进行温度补偿的电压 变动和补偿余像的电压变动变换为相同的电压范围并进行检测的系 统的有机EL显示装置。即,包括测定基于温度特性的电压变化的路 径和测定基于余像的电压变化的路径。而且,例如作为对于检测基 于温度的特性变化的测定电压的反馈,使检测余像的像素数量或检 测余像的电流源的电流值变化,由此使检测温度特性和余像特性的 电压电平一致。具体技术方案如下。
(1)一种有机EL显示装置,包括呈矩阵状配置有多个像素的 显示部和、检测上述像素内的OLED元件的发光特性的检测部,其 特征在于:上述检测部包括使检测出的特性值通过的第一路径和使 检测出的特性值衰减的第二路径,上述第一路径上设置有第一开关, 上述第二路径上设置有第二开关,上述第一开关闭合时,上述第二 开关断开,通过上述第一路径或上述第二路径的上述检测出的特性 值被输入到相同的模拟-数字变换器而被变换为数字量。
(2)根据(1)所述的有机EL显示装置,其特征在于:上述第 一路径或上述第二路径与上述模拟-数字变换器之间设置有缓冲放大 器。
(3)根据(1)所述的有机EL显示装置,其特征在于:上述特 性值是通过从设置在检测部的电流源向上述OLED元件提供电流而 产生的上述OLED元件的端子部电压值。
(4)根据(1)所述的有机EL显示装置,其特征在于:上述第 二路径包括第一电阻,上述检测特性值的衰减由在上述第二路径外 与上述第一电阻串联连接的第二电阻与上述第一电阻之比所规定。
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