[发明专利]指针位置检测装置、钟表及指针位置检测方法有效
申请号: | 200910004896.X | 申请日: | 2009-02-04 |
公开(公告)号: | CN101504534A | 公开(公告)日: | 2009-08-12 |
发明(设计)人: | 马场康治;江藤大史 | 申请(专利权)人: | 精工时钟有限公司 |
主分类号: | G04C3/00 | 分类号: | G04C3/00;G01B11/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 指针 位置 检测 装置 钟表 方法 | ||
1.一种指针位置检测装置,其对由驱动源通过齿轮组而运转的指针的位置进行检测,其特征在于,该指针位置检测装置具有:
包含在所述齿轮组中的齿轮;
包含在所述齿轮组中的除了所述齿轮以外的另一齿轮;
第1输出单元,其具有照射所述齿轮的第1发光元件和第1受光元件,通过由所述第1受光元件接收来自所述第1发光元件的光,来输出与所述齿轮是否处于预定位置相对应的比特信号;
第2输出单元,其具有照射所述另一齿轮的第2发光元件和第2受光元件,通过由所述第2受光元件接收来自所述第2发光元件的光,来按照与所述齿轮组的动作对应的固定周期来输出基准信号;以及
控制单元,其以所述输出的基准信号为基准,检测与由所述输出的连续多个所述比特信号构成的码相对应的所述指针的位置,
所述基准信号的周期以及所述比特信号的模式的周期比所述指针的周期短,并且,各个周期的最小公倍数与所述指针的周期一致。
2.根据权利要求1所述的指针位置检测装置,其特征在于,
在所述比特信号的模式的周期内输出的比特数与在所述指针的周期内输出的所述基准信号的数量一致。
3.根据权利要求1或2所述的指针位置检测装置,其特征在于,
在所述齿轮的预定位置上设置有反射板或通孔,
所述第1受光元件输出与是否经由所述反射板或通孔接收到来自所述第1发光元件的光相对应的所述比特信号。
4.根据权利要求1或2所述的指针位置检测装置,其特征在于,
在所述另一齿轮的预定位置上设置有反射板或通孔,
所述第2受光元件响应于经由所述反射板或通孔接收到来自所述第2发光元件的光而输出所述基准信号。
5.根据权利要求3所述的指针位置检测装置,其特征在于,
作为位置检测对象的所述指针是时针,
所述齿轮的旋转周期比与分针连接的分针轮的旋转周期短。
6.根据权利要求4所述的指针位置检测装置,其特征在于,
作为位置检测对象的所述指针是时针,
所述另一齿轮的旋转周期比与分针连接的分针轮的旋转周期长。
7.根据权利要求4所述的指针位置检测装置,其特征在于,
对于所述齿轮和所述另一齿轮各自的旋转周期,前者的旋转周期比后者的旋转周期短。
8.一种钟表,其特征在于,
该钟表具有权利要求1所述的指针位置检测装置。
9.一种指针位置检测方法,其对由驱动源通过齿轮组而运转的指针的位置进行检测,其特征在于,该指针位置检测方法具有以下步骤:
第1发光元件照射包含在所述齿轮组中的齿轮,通过由第1受光元件接收来自所述第1发光元件的光,来输出与所述齿轮是否处于预定位置相对应的比特信号;
第2发光元件照射包含在所述齿轮组中的除了所述齿轮以外的另一齿轮,通过由第2受光元件接收来自所述第2发光元件的光,来按照与所述齿轮组的动作对应的固定周期来输出基准信号;以及
以所述输出的基准信号为基准,检测与由所述输出的连续多个所述比特信号构成的码相对应的所述指针的位置,
所述基准信号的周期以及所述比特信号的模式的周期比所述指针的周期短,并且,各个周期的最小公倍数与所述指针的周期一致。
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