[发明专利]分类机及分类测试方法

说明书

技术领域

本发明关于一种分类机及其测试方法，并且特别地，本发 明关于一种能自动分类集成电路(integrated circuit，IC)的分类 机及其自动化测试方法。

背景技术

IC测试分类机主要被应用于半导体测试流程后段，其为一 种可将IC进行测试分类的自动化机械结构。请参阅图1，图1是 绘示现有IC测试分类机1的示意图。现有IC测试分类机1包括分 类器10、测试机12以及多个缆线(cable)14。现有IC测试分类机1 由分类器10与测试机12通过缆线14电连接组成。其中，分类器 10可进一步包括载盘(tray)或载管(tube)。分类器10执行分类动 作时，是将待测的集成电路分类放置于分类器10的标准容器载 盘或载管。

测试机12主要依放置于载盘或载管中的集成电路进行测 试，并传递测试结果回分类器10进行分类。举例来说，分类器 10包括3个置放区(第一区、第二区及第三区)，分别对应最佳、 可通过及失败的三种品质类别。当测试机12测试某一集成电路 后，测得品质为可通过，分类器10就可根据测试结果，将该集 成电路置放于第二区。

由于不同的集成电路产生不同电性功能，因此测试机12与 分类器10的连接，需使用多条缆线14以传递测试信号。

由上所述，目前针对集成电路的分类器10并无自我测试分 类的功能。测试机12与分类器10的通信以缆线14相互连接，才 能执行分类功能。除此之外，并需进一步确认测试机12以及所 有连接的缆线14均为良品，分类器10与测试机12才能正常动作， 且分类结果是否正确，仍需依靠人员进行判断。

换言之，现有IC测试分类机执行分类动作前，必须重复确 认测试机以及缆线均为良品，并靠人员判断该分类结果正确与 否。以现今的科技发展此分类技术不仅耗时、耗费人力更缺乏 效率。综合上述，通过整合分类器以及测试机，借以节省测试 机与缆线的设置成本，将为本发明当务之急欲改善的目标。

发明内容

因此，本发明的一范畴在于提供一种分类机。特别地，根 据本发明的分类机可通过分类信号的比较，达到自我分类以及 测试的目的，也可节省测试机以及缆线的设置成本，并减少人 为的错误判断。

根据一具体实施例，本发明的分类机包括一分类器以及一 测试模块。该测试模块可拆卸地连接于该分类器。测试模块进 一步包括一信号产生器、一感应器以及一信号比较器。该信号 产生器产生并送出一第一分类信号，该分类器接收该第一分类 信号，并根据该第一分类信号将一第一电子元件对应地分类置 放于一第一区域。该感应器感应置放于该第一区域的该第一电 子元件，以对应地产生及送出一第二分类信号。该信号比较器 电连接该感应器及该信号产生器，接收该第一分类信号及该第 二分类信号，该信号比较器判断该第一分类信号是否相同于该 第二分类信号，并对应地送出一比较信号。

若该信号比较器判断该第一分类信号相同于该第二分类信 号，则送出的该比较信号为一肯定信号。相反地，若该信号比 较器判断该第一分类信号异于该第二分类信号，则送出的该比 较信号为一否定信号。若信号产生器接收到肯定信号，则继续 送出一第三分类信号给分类器，若该第三分类信号异于该第一 分类信号，则该分类器根据该第三分类信号，将一第二电子元 件对应地分类置放于一第二区域，若该第三分类信号相同于该 第一分类信号，则该分类器根据该第三分类信号，将一第二电 子元件对应地分类置放于该第一区域，即让分类器继续运作。 反之，若信号产生器接收到否定信号，则停止送出分类信号或 产生一停止信号给分类器，让分类器停止运作。借此，当本发 明的分类机侦测到分类错误时能自我停止，毋需人工检测，以 达到自我测试的功能。

本发明所述的分类机，进一步包括一通知单元，电连接至 该信号产生器，该信号产生器送出该停止信号给该通知单元， 该通知单元根据该停止信号，对应地产生一停止信息。

本发明所述的分类机，进一步包括一通知单元，电连接至 该信号产生器及该感应器，该通知单元根据该第一分类信号及 该第二分类信号，对应地产生一第一分类信息及一第二分类信 息。

本发明所述的分类机，进一步包括一通知单元，电连接至 该信号比较器，该通知单元根据该比较信号，对应地产生一比 较信息。

本发明所述的分类机，该通知单元为一显示器、一扩音器 或一指示灯号。