[发明专利]分子数测定装置及分子数测定方法无效
| 申请号： | 200910006929.4 | 申请日： | 2009-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN101504368A | 公开（公告）日： | 2009-08-12 |
| 发明（设计）人： | 田名网健雄;青木秀年;佐藤纱绫;杉山由美子 | 申请（专利权）人： | 横河电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人： | 何立波;张天舒 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 分子 测定 装置 方法 | ||
1.一种分子数测定方法，其基于与试样的分子数有相关性的光量，对上述分子数定量地进行测定，
其特征在于，具有：
计算单个分子的理论光量的步骤；
使用摄像系统测量上述试样的光量的步骤；以及
基于测量出的上述试样的光量和计算出的上述理论光量之比，计算上述试样的分子数的步骤。
2.根据权利要求1所述的分子数测定方法，其特征在于，
具有对上述摄像系统的光量和输出值之间的对应关系进行校正的步骤，
在测量上述试样的光量的步骤中，使用校正后的上述对应关系测量上述试样的光量。
3.根据权利要求1或2所述的分子数测定方法，其特征在于，
与上述分子数有相关性的光量是从上述试样发出的荧光的荧光量，在计算上述理论光量的步骤中，使用摩尔吸光系数、量子效率、激励波长效率及激励光量计算作为上述理论光量的理论荧光量。
4.根据权利要求1或2所述的分子数测定方法，其特征在于，
与上述分子数有相关性的光量是上述试样的吸光量。
5.根据权利要求1或2所述的分子数测定方法，其特征在于，
与上述分子数有相关性的光量是上述试样的发光量。
6.根据权利要求1至5中任意一项所述的分子数测定方法，其特征在于，
上述摄像系统具有共焦光学系统。
7.一种分子数测定装置，其基于与试样的分子数有相关性的光量，对上述分子数定量地进行测定，
其特征在于，具有：
理论光量计算单元，其计算单个分子的理论光量；
光量测量单元，其使用摄像系统测量上述试样的光量；以及
分子数计算单元，其基于测量出的上述试样的光量和计算出的上述理论光量之比，计算上述试样的分子数。
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