[发明专利]显示模块的老化测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于显示模块的老化测试装置(aging test device)。更具 体地说，本发明涉及一种能够同时执行显示模块的老化和测试的显示模块老 化测试装置。

背景技术

在显示模块的制造过程中，使用一种用于通过将电压和信号施加到模块 并持续预定时间段以测试每个模块的操作状态和耐久性(durability)的工艺， 该工艺被称作老化测试。

对于显示模块，老化测试是在母基底单元上执行的，其中，每个模块在 彼此切分之前被安装在母基底单元上。由于具有方便地执行测试并且可通过 映射缺陷(defect)出现的位置来容易地检测缺陷的优点，因此这种母基底单 元老化测试被频繁使用。但是，由于测试在串联并互相平行地结合的许多模 块上执行，因此在布线中存在串联或平行的回路。这种回路在信号中产生噪 声，并且产生影响周围模块的漏电流。因此，不能执行准确的测试。此外， 当在母基底的一些模块中发生问题时，周围的模块和布线会受到问题的影响， 从而不能顺利地执行整个母基底的老化测试。

同时，模块的尺寸随着显示器的尺寸增加而增加。但是，当每个模块的 尺寸增加时，测试整个母基底的传统方法变得不好。例如，每个模块的尺寸 增加使得在一个母基底中包括的模块的数量减少。因此，生产率降低。此外， 随着模块的尺寸增加，测试装置应该根据模块的改变而改变。但是，在传统 的母基底单元测试方法中，难以根据模块的改变来改变测试装置。

以上在背景技术部分中公开的信息只是用于提高对本发明的背景的理 解，因此，其可包括没有形成作为已经被该国家的普通技术人员公知的现有 技术的信息。

发明内容

努力提出本发明以提供一种具有对每个显示模块单元同时执行老化测试 的优点的装置。

根据本发明的示例性实施例的显示模块老化测试装置包括：两个或多个 框架，彼此按照恒定距离布置；旋转支撑单元，可旋转地安装在框架上；测 试单元，被旋转支撑单元支撑并且测试模块，所述测试单元的每个与一个显 示模块结合；功率传输单元，将旋转功率传输到旋转支撑单元；功率供应单 元，将功率供应到功率传输单元和测试单元；第一连接单元，被设置在旋转 支撑单元的中空轴上，并且电连接到功率供应单元和测试单元；控制器，控 制功率传输单元和功率供应单元，并分析测试单元测量的数据。

所述显示模块老化测试装置还可包括包围显示模块老化测试装置的室 腔。

所述室腔可包括将显示模块安装到测试单元和从测试单元拆下显示模块 的开口。

测试单元可包括在其中心的中空轴，用于相对于旋转支撑单元进行相对 旋转运动。

所述显示模块老化测试装置还可包括第二连接单元，第二连接单元电连 接到第一连接单元，并且设置在旋转支撑单元上，以对应于测试单元的中空 轴。

所述显示模块老化测试装置还可包括辅助功率传输单元，该辅助功率传 输单元传输功率，以保持测试单元的水平姿态。

旋转支撑单元具有圆形或椭圆形形状。

所述模块被电连接到功率传输单元或第一连接单元。

所述测试单元可包括：结合单元，显示模块被放置在所述结合单元中； 功率供应单元，将功率供应到显示模块；信号供应单元，将信号提供给显示 模块；信号传输单元，将显示模块产生的数据传输到控制器。

测试单元可被设置在旋转支撑单元的预定大小的旋转半径上。

测试单元可与旋转支撑单元隔开恒定距离地设置。

第一连接单元被设置在旋转支撑单元的旋转中心上，并且可包括电信号 的输入单元和输出单元，以通过旋转轴传输电信号。

控制器产生的电信号和功率供应单元供应的功率通过第一连接单元被传 输到测试单元，并且显示模块产生的数据通过第一连接单元被传输到控制器。

一种根据本发明的示例性实施例的老化测试系统可包括两个或多个上述 显示模块老化测试装置。

由于测试在设置有测试单元的旋转支撑单元旋转的同时被执行，因此根 据本发明的示例性实施例的显示模块老化测试装置可连续执行测试。因此， 测试效率可被提高。

此外，不需要布线，因此由于布线产生的噪声和干扰可被减小，并且信 号延迟可被减小。因此，可准确地执行测试。