[发明专利]用以校正光学模块的聚焦位置的电路及其校正方法无效
申请号: | 200910008315.X | 申请日: | 2009-02-20 |
公开(公告)号: | CN101813818A | 公开(公告)日: | 2010-08-25 |
发明(设计)人: | 郑丁元;田百育 | 申请(专利权)人: | 致伸科技股份有限公司 |
主分类号: | G02B7/28 | 分类号: | G02B7/28;H04N5/232 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 姜燕;陈晨 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用以 校正 光学 模块 聚焦 位置 电路 及其 方法 | ||
技术领域
本发明涉及光学模块的聚焦位置的校正,尤其涉及一种利用锁相回路来 校正光学模块的聚焦位置的电路及其校正方法。
背景技术
一般相机模块在进行自动对焦,也即自动校正其聚焦位置(focus position)时,会先检测每一个聚焦位置的聚焦值(Focus Value,FV)以得到 一聚焦位置与聚焦值对照表或是一聚焦位置与聚焦值的特征曲线。请参考图 1,图1为聚焦位置与聚焦值的特征曲线以及利用爬山搜寻法 (mountain-climbing search method)来得到最佳聚焦位置的示意图。在图1 中,实线110为聚焦位置与聚焦值的特征曲线,其中相对应于最大聚焦值的 聚焦位置为最佳聚焦位置(也即是特征曲线110的峰值(peak value)),虚 线则用来表示利用爬山搜寻法来寻找最佳聚焦位置时聚焦位置的移动方向 以及移动的步阶大小,爬山搜寻法为一般相机模块在进行对焦时所常用的方 法,本领域普通技术人员均应了解此方法的操作原理以及相关细节,因此在 此不再赘述。
然而,在利用爬山搜寻法来寻找最佳聚焦位置前,需要先得到聚焦位置 与聚焦值的特征曲线110,在理论上,特征曲线110如图1所示为一对称的 曲线,且仅有一个峰值,然而,因为噪声的影响,相机模块所检测到的特征 曲线会如图2(a)所示并非为一对称的曲线,甚至会如图2(b)所示具有2个或 2个以上的峰值,如此一来,爬山搜寻法所搜寻到的最佳聚焦位置可能并非 实际的最佳聚焦位置,因而造成相机模块无法以最佳的聚焦位置进行照相或 是摄影,而影响到所拍摄的照片或是图像的品质。
发明内容
因此,本发明的目的之一在于提供一种利用锁相回路来校正光学模块的 聚焦位置的电路及其校正方法,以解决上述的问题。
依据本发明的一实施例,一种用以校正一光学模块的聚焦位置的电路包 含有一校正信号产生单元以及一聚焦位置调整单元。该校正信号产生单元用 以同时依据至少对应于一第一聚焦位置的一第一聚焦信号以及对应于一第 二聚焦位置的一第二聚焦信号来产生一校正信号,其中该第一聚焦位置异于 该第二聚焦位置。该聚焦位置调整单元耦接于该校正信号产生单元,并用来 依据该校正信号以将该光学模块的聚焦位置调整至一特定聚焦位置。
依据本发明的另一实施例,一种用以校正一光学模块的聚焦位置的方法 包含有:同时依据至少对应于一第一聚焦位置的一第一聚焦信号以及对应于 一第二聚焦位置的一第二聚焦信号来产生一校正信号,其中该第一聚焦位置 异于该第二聚焦位置;以及依据该校正信号以将该光学模块的聚焦位置调整 至一特定聚焦位置。
依据本发明的用以校正光学模块的聚焦位置的电路以及方法,即使所检 测到的聚焦位置与聚焦值的特征曲线因为噪声的影响而有如图2所示,本发 明的电路以及方法也可消除这些噪声的影响而得到正确的最佳聚焦位置,进 而改善所拍摄的照片或是图像的品质。
附图说明
图1为聚焦位置与聚焦值的特征曲线以及利用爬山搜寻法来得到最佳聚 焦位置的示意图。
图2为受到噪声影响的聚焦位置与聚焦值的特征曲线的示意图。
图3为本发明一实施例用以校正光学模块的聚焦位置的电路的示意图。
图4为图3所示的电路校正光学模块的聚焦位置的时序图。
图5为在图4所示的每一个校正时间内光学模块所检测到的聚焦位置与 聚焦值的特征曲线的示意图。
其中,附图标记说明如下:
110、510 特征曲线
300 电路
310 聚焦信号产生单元
320 校正信号产生单元
322 比较器
324 滤波器
326 积分器
330 聚焦位置校正单元
340 加法器
具体实施方式
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