[发明专利]降低质谱分析中的噪声的方法和装置有效
申请号: | 200910008549.4 | 申请日: | 2009-01-23 |
公开(公告)号: | CN101498685B | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | 托马斯·P·多尔蒂;杰弗里·T·凯尔南;詹姆斯·D·福特 | 申请(专利权)人: | 安捷伦科技有限公司 |
主分类号: | G01N27/68 | 分类号: | G01N27/68 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司11258 | 代理人: | 李剑,南霆 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 降低 谱分析 中的 噪声 方法 装置 | ||
1.一种在质谱仪中对包含分析物的样品进行质谱分析的方法,包括:
将所述样品通过电子碰撞电离离子化,以生成所述样品中的分析物的离子;
利用质荷比将所得离子分离;
用检测器检测被分离的离子;和
将亚稳还原气体在离子化之后且在检测之前的位置引入所述质谱仪,
其中所述样品伴随有载气,并且其中所述亚稳还原气体是激发能态与所述载气的亚稳粒子的能态近似的物质。
2.如权利要求1的方法,其中所述亚稳还原气体和所述载气是相同的物质。
3.如权利要求2的方法,其中所述载气和所述亚稳还原气体均为氦气。
4.如权利要求1的方法,其中所述引入发生在所述分离之后。
5.如权利要求1的方法,其中所述离子通过位于所述离子化与所述检测之间的腔室,所述腔室包含所述亚稳还原气体。
6.如权利要求5的方法,其中所述腔室是碰撞室,并且所述方法还包括在所述碰撞室与所述检测之间利用质荷比对所述离子进行第二次分离。
7.如权利要求1的方法,还包括:
使所述离子通过所述分离与所述检测之间的碰撞室;和
在所述碰撞室与所述检测之间利用质荷比对所述离子进行第二次分离;
其中所述引入发生在所述第二次分离与所述检测之间。
8.一种质谱仪,包括:
输入端口,用于接收样品,所述样品伴随有载气;
包括离子化空间的离子源,在所述离子化空间中通过电子碰撞电离由所述样品中存在的分析物生成离子;
质量分析器,用于接收所述离子并将离子依其质荷比分离;
具有检测器表面的检测器,用于检测被所述质量分析器分离的离子;
设置在所述离子化空间与所述检测器表面之间的第一端口,通过所述第一端口将亚稳还原气体引入所述质谱仪,其中所述亚稳还原气体是激发能态与所述载气的亚稳粒子的能态近似的物质;和
设置在所述离子化空间与所述检测器表面之间的第二端口,通过所述第二端口将碰撞气体引入所述质谱仪用于破碎所述样品的离子。
9.如权利要求8的质谱仪,还包括:
位于所述质量分析器与所述检测器之间的碰撞室;并且其中
所述第一端口和所述第二端口被设置来将所述亚稳态还原气体和所述碰撞气体分别引入所述碰撞室。
10.如权利要求8的质谱仪,还包括:
位于所述离子化空间与所述检测器表面之间的腔室,并且所述第一端口与所述腔室连接以将所述亚稳还原气体引入所述腔室;和
位于所述离子化空间与所述检测器表面之间的碰撞室,并且所述第二端口与所述碰撞室连接以将所述碰撞气体引入所述碰撞室。
11.一种质谱仪,包括:
输入端口,用于接收样品,所述样品伴随有载气;
包括离子化空间的离子源,在所述离子化空间中通过电子碰撞电离由所述样品中存在的分析物生成离子;
一个且仅有一个质量分析器,用于接收所述离子并将离子依其质荷比分离,其中所述质量分析器不是离子阱;
具有检测器表面的检测器,用于检测被所述质量分析器分离的离子;
设置在所述离子化空间与所述检测器表面之间的端口,通过所述端口将亚稳还原气体引入所述质谱仪,其中所述亚稳还原气体是激发能态与所述载气的亚稳粒子的能态近似的物质。
12.如权利要求11的质谱仪,其中所述端口位于所述质量分析器与所述检测器表面之间。
13.如权利要求11的质谱仪,还包括:
位于所述离子化空间与所述检测器表面之间的腔室,并且所述端口将所述亚稳还原气体供给至所述腔室。
14.如权利要求11的质谱仪,还包括:
具有向所述输入端口提供所述样品的输出端口的气相色谱。
15.如权利要求11的质谱仪,其中所述质量分析器是四极质量分析器。
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