[发明专利]用于阴影校正的装置和方法

权利要求书

1.一种对在其全部或部分上具有阴影的图像I进行阴影校正的 方法，包括以下步骤：

从图像I检测背景像素；

根据所检测到的背景像素产生图像I的光强度图像；以及

利用该光强度图像从图像I去除阴影，

其中，从图像I检测背景像素的步骤包括：

将图像I划分为图像块；

通过对每个图像块应用二值化来产生与每个图像块对应的 二值图像块；

通过参考所产生的二值图像块对于每个图像块从包含在该 图像块的像素提取第一组背景像素；

通过向对于每个图像块提取的第一组背景像素应用用于计 算用于去除前景像素和噪声像素的阈值T1和T2的等式，对每个图像 块确定光强度范围［T1，T2］；以及

从包含在对每个图像块提取的第一组背景像素中的像素检 测均具有在光强度范围［T1，T2］内的光强度的第二组背景像素，作为 每个图像块的背景像素，

其中，根据所检测到的背景像素产生图像I的光强度图像的步骤 包括：

基于检测到的每个图像块的背景像素的光强度，获取每个图 像块的背景光强度；以及

基于每个图像块的背景光强度，产生图像I的光强度图像。

2.一种对在其全部或部分上具有阴影的图像I进行阴影校正的 方法，包括以下步骤：

从图像I检测背景像素；

根据所检测到的背景像素产生图像I的光强度图像；以及

利用该光强度图像从图像I去除阴影，

其中，从图像I检测背景像素的步骤包括：

通过对图像I应用二值化来产生二值图像A；

将图像I划分为图像块；

通过参考二值图像A从包含在每个图像块中的像素提取第 一组背景像素；

通过向对于每个图像块提取的第一组背景像素应用用于计 算用于去除前景像素和噪声像素的阈值T1和T2的等式，对每个图像 块确定光强度范围［T1，T2］；以及

从包含在对每个图像块提取的第一组背景像素中的像素检 测均具有在光强度范围［T1，T2］内的光强度的第二组背景像素，作为 每个图像块的背景像素，

其中，根据所检测到的背景像素产生图像I的光强度图像的步骤 包括：

基于每个图像块的背景像素的光强度，获取每个图像块的背 景光强度；以及

基于每个图像块的背景光强度，产生图像I的光强度图像。

3.如权利要求1或2所述的方法，其中所述确定光强度范围［T₁， T₂］的步骤进一步包括：

对于每一图像块计算在所提取的各自的第一组背景像素中的光 强度均值M和光强度方差σ；

对于每一图像块如下计算T₁和T₂：

T₁＝M+α₁*σ

T₂＝M+α₂*σ

其中，α₁∈[-1，0]且α₂∈[0，1]。

4.如权利要求1或2所述的方法，其中根据所检测到的背景像 素产生图像I的光强度图像的步骤包括：

将每一图像块中的所检测到的背景像素的光强度的平均值设置 为该图像块的平均背景光强度；以及

由各图像块的平均背景光强度生成光强度图像。

5.如权利要求4所述的方法，其中由各图像块的平均背景光强 度生成光强度图像的步骤包括：

通过对各图像块的平均背景光强度进行上采样，或进行上采样并 然后进行平滑，来产生具有与图像I相同尺寸的光强度图像。