[发明专利]磁辊圆柱度自动检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种同轴度自动检测装置，特别是一种关于磁辊的同轴度无损检测装置。

背景技术

磁辊的同轴度直接影响硒鼓产品是否合格，因此使用磁辊前均需要对此进行同轴度的测量，目前使用较多的三坐标测量法虽然直观方便，但是组成复杂，受温度影响大，保养要求高。

发明内容

一种磁辊同轴度自动检测装置，用来自动测量磁辊的同轴度，该测量装置包括测量平台，夹紧装置，激光系统，采集系统，计算机，转动控制轮。整个装置放置在测量平台上，激光系统由功率为10mw的半导体激光器，入射光聚焦透镜，反射光聚焦透镜组成，采集系统与计算机相连，转动控制轮带动工件旋转，夹紧装置与转动控制轮连接并由其带动工件旋转。

本装置采用相对测量方法，测量前先测量标准件，并记录下数据，然后测量被测磁辊，记录数据，将待测磁辊与标准件比较，得到尺寸偏差。

激光系统由功率为10mw的半导体激光器，入射光聚焦透镜，反射光聚焦透镜组成；采集系统主要部件为光位置检测元件。半导体激光器为光源，入射光聚焦透镜使入射光聚焦，反射光聚焦透镜使反射光聚焦，光位置检测元件用来接受反射光聚焦成的光点。整个装置固定在测量平台上，磁辊由夹紧装置控制，转动控制轮通过夹紧装置带动磁辊旋转，激光系统中半导体激光源发射出的光束由聚焦透镜聚焦准直后，垂直照射到被测磁辊上。激光束照射待测磁辊时，应垂直照射磁辊表面，并与磁辊保持一定的距离。一部分反射光被采集系统接收，得到光点的位置，根据光位置检测元件上的位置，可以计算出被测对象的位移量；将磁辊绕自身旋转，每旋转10度得到一个光点，采集该光点信息，如此共可得三十六个光点信息。下面是对所得到的三十六个光点信息计算原理：

根据最小二乘法原理，设待测面为A，标准面为B，可得到极坐标系列值：

(r_Ai，θ_i)(r_Bi，θ_i)i＝1，2，…，36.

将极坐标转化为直角坐标

X_i＝r_icosθ_i  ，y_i＝r_isinθ_i  ，

可求得两个实际圆的圆心坐标O_A(a，b)，O_B(a’，b’)

a=2nΣi=1nxAi,b=2nΣi=1nyAi]]>