[发明专利]AlGaN基蓝宝石衬底的紫外LED器件及制作方法有效
申请号: | 200910021793.4 | 申请日: | 2009-03-31 |
公开(公告)号: | CN101527342A | 公开(公告)日: | 2009-09-09 |
发明(设计)人: | 郝跃;杨凌;马晓华;周小伟;李培咸 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 | 代理人: | 王品华;黎汉华 |
地址: | 71007*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | algan 蓝宝石 衬底 紫外 led 器件 制作方法 | ||
1.一种AlGaN基蓝宝石衬底的紫外LED器件的制作方法,包括:
A.材料生长步骤:在蓝宝石基片上,利用MOCVD工艺,按照自下而上的顺序生长低温AlN成核层、高温AlN成核层、AlGaN外延层、n-AlGaN势垒层、有源区、40%-60%的高Al组分p型AlGaN势垒层、10%-25%的低Al组分p型AlGaN层和p型GaN帽层;
B.窗口区(W)制作步骤:
(B1)采用ICP或者RIE工艺从顶部p型GaN帽层刻蚀至n型AlGaN层,形成n型AlGaN台面;
(B2)先光刻出位于p型GaN帽层的圆形窗口,再采用氯基ICP工艺二次刻蚀窗口区至低Al组分的p型AlGaN层,形成圆柱体的出光窗口,其刻蚀工艺参数分别为:180W-600W的上电极功率,0-150V的偏压,1-3Pa的压力、100-230s的刻蚀时间;
(B3)在n型AlGaN台面和p型GaN帽层上光刻出湿法刻蚀的掩膜图形,采用电子束蒸发工艺,在掩膜图形区蒸发湿法掩膜金属层Ti,之后将其放入到70℃的KOH溶液中3min,进行湿法刻蚀前的预处理;
(B4)采用KOH电解液对预处理后的样片进行光辅助湿法刻蚀,形成类似于半球体的出光窗口,其湿法刻蚀工艺参数分别为:325nm的He-Cd激光照射,-2V--4V的偏压,10-15min的刻蚀时间;之后将其放入到1∶10的HF溶液中漂洗掉金属掩膜层Ti;
C.电极制作步骤:
(C1)在n型AlGaN台面上光刻出n型电极的图形,采用电子束蒸发工艺,在电极图形区蒸发n型欧姆接触金属,形成n型电极;
(C2)在p型GaN帽层光刻出p型电极的图形,采用电子束蒸发工艺,在电极图形区蒸发p型欧姆接触金属,形成p型电极,完成器件制作。
2.一种AlGaN基蓝宝石衬底的紫外LED器件的制作方法,包括:
1.材料生长步骤:在蓝宝石基片上,利用MOCVD工艺,按照自下而上的顺序生长低温AlN成核层、高温AlN成核层、AlGaN外延层、n-AlGaN势垒层、有源区、40%-60%的高Al组分p型AlGaN势垒层、10%-25%的低Al组分p型AlGaN 层和p型GaN帽层;
2.窗口区(W)制作步骤:
(2a)采用ICP或者RIE工艺从顶部p型GaN帽层刻蚀至n型AlGaN层,形成n型AlGaN台面;
(2b)在p型GaN帽层中心先光刻出圆形窗口,再采用氯基RIE工艺二次刻蚀窗口区至低Al组分p型AlGaN势垒层,形成圆柱体的出光窗口,其刻蚀工艺参数分别为:80W-400W的电极功率,210-620V的偏压,5-10mT的反应室压力,80-210s的刻蚀时间;
(2c)在n型AlGaN台面和p型GaN帽层上光刻出湿法刻蚀的掩膜图形,采用电子束蒸发工艺,在掩膜图形区蒸发湿法掩膜金属层Ti,之后将其放入到80℃的KOH溶液中3min,进行湿法刻蚀前的预处理;
(2d)采用KOH电解液对预处理后的样片进行光辅助湿法刻蚀,形成类似于半球体的出光窗口,其湿法刻蚀工艺参数分别为:325nm的He-Cd激光照射,-4V--6V的偏压,8-13min的刻蚀时间;之后将其放入到1∶10的HF溶液中漂洗掉金属掩膜层Ti;
3.电极制作步骤:
(3a)在n型AlGaN台面上光刻出n型电极的图形,采用电子束蒸发工艺,在电极图形区蒸发n型欧姆接触金属,形成n型电极;
(3b)在p型GaN帽层光刻出p型电极的图形,采用电子束蒸发工艺,在电极图形区蒸发p型欧姆接触金属,形成p型电极,完成器件制作。
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