[发明专利]电路参数多点测试仪有效
申请号: | 200910022230.7 | 申请日: | 2009-04-28 |
公开(公告)号: | CN101876685A | 公开(公告)日: | 2010-11-03 |
发明(设计)人: | 郭恩全;高宝平;白晓峰;张亚峰;刘卫东 | 申请(专利权)人: | 陕西海泰电子有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/02;G01R31/12 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 王少文 |
地址: | 710075 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电路 参数 多点 测试仪 | ||
技术领域
本发明涉及虚拟仪器技术领域,是一种电路参数多点测试仪器。
背景技术
现有的电路参数测试仪器,有些采用矩阵开关,但带来了开关数量的浪费,有些采用多路开关,但带来了测试不灵活的缺点。另外,电路参数测试仪器的扩展性差,多台测试仪器不能同时工作。
发明内容
本发明目的在于克服电路参数测试中测试仪器扩展性差,多台测试仪器不能同时工作,仅用矩阵开关带来的开关数量的浪费和仅用多路开关带来的测试的不灵活的缺点,提供一种扩展性强、拓扑结构灵活的开放式电路参数多点测试仪。
本发明的技术解决方案是:
一种电路参数多点测试仪,包括至少一台电路参数测试仪器1、模拟总线2、多路开关组、转接器6,所述多路开关组包括多个多路开关5,所述转接器6用于连接多路开关5和被测电路9,其特殊之处在于:所述电路参数多点测试仪还包括仪器端矩阵开关4,所述仪器端矩阵开关4用于仪器测试线8和模拟总线2之间的选通,所述每个多路开关5包括模拟总线连接开关51和电路连接开关52,所述多路开关组的模拟总线连接开关51、模拟总线2组成电路端矩阵开关7,所述电路连接开关52用于实现测试回路在不同被测电路9之间的切换。
上述电路参数测试仪器1包括万用表、绝缘性测试仪、耐压测试仪中的一种或任意几种的组合。
上述电路参数测试仪器1包括万用表、信号源、示波器、绝缘性测试仪、耐压测试仪中的一种或任意几种的组合。
上述模拟总线2还包括扩展模拟总线3。
本发明具有以下优点:
1、本发明通过测试仪器、仪器端矩阵开关的组合,可实现多种测试功能的任意扩展;通过增加多路开关的数量可以实现多路测试的测试点数的任意扩展;
2、本发明可实现多台测试仪器同时测试。
3、本发明特别适合于大型设备和系统中各种电路的维修和故障定位,可应用于船舶、航天、航空、大型测试系统及自动化工厂等领域中。
附图说明
图1是本发明多芯电缆测试仪的结构示意框图;
图2是本发明多芯电缆测试仪的拓扑结构图;
其中:1-电路参数测试仪器,2-模拟总线,3-扩展模拟总线,4-仪器端矩阵开关,5-多路开关,51-模拟总线连接开关,52-电路连接开关,6-转接器,7-电路端矩阵开关,8-仪器测试线,9-被测电路。
具体实施方式
本发明电路参数多点测试仪的组成如图1和图2所示,由多台电路参数测试仪器1、仪器端矩阵开关4、电路端矩阵开关7、电路连接开关52、转接器6组成。测试仪器用来实现被测电路各个性能参数的测试,包括万用表、信号源、示波器、绝缘性测试仪、耐压测试仪等,还可根据需求增加其它参数测试仪。仪器端矩阵开关和电路端矩阵开关用来实现把测试仪器的测试端选通到不同的电路连接开关52。左边部分为仪器端矩阵开关,由模拟总线和测试仪器的仪器测试线通过开关连接而成;右边部分为电路端矩阵开关,由模拟总线和模拟总线连接开关51连接而成。模拟总线的数量由同时工作的测试仪器的最多测试线数决定,其它仪器的测试则采用模拟总线共享的方法。电路连接开关52用来实现测试回路在被测电路的不同的测试点之间的切换。在2线测试中,把被测电路的两端分别连接到两个电路连接开关上;在4线测试中,按照4线测试的方法,把被测电路的各端分别连接到四个电路连接开关上;也可以把多个电路分别连接到多个电路连接开关上,对多个被测电路进行同时测试;可以把多个电路连接开关合并,形成通道更多的电路连接开关。转接器用来实现电路连接开关和被测电路之间的连接。
本发明是利用电路测试仪器、矩阵开关和多路开关来实现电路参数多点测试的功能,主要作用是对各种电路的电气参数、导通性、绝缘性和耐压等指标进行检测,并可以把电路的故障定位到具体的测试点上。本发明测试仪器可以任意扩展,可以把测试仪器的测试端选通到不同的测试点之间,所以可实现测试回路在不同的测试点之间的切换。
本发明模拟总线的数量如果选用4根,则可进行电路参数的2线测试和4线测试;多路开关选用8个1选24多路开关,可实现2线测试最多80点电路的测试和4线测试最多40点电路的测试,并可实现两台2线测试仪器同时进行工作。图2所示模拟总线的数量是5根,扩展模拟总线的数量是2根。本发明可测点数等于多路开关的通道数减去模拟总线数。
本发明可用于多芯电缆的参数和性能测试。
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