[发明专利]梁膜结合微压传感器无效
申请号: | 200910024321.4 | 申请日: | 2009-10-14 |
公开(公告)号: | CN101672710A | 公开(公告)日: | 2010-03-17 |
发明(设计)人: | 蒋庄德;田边;赵玉龙;廖南生 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01L9/04 | 分类号: | G01L9/04 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 | 代理人: | 弋才富 |
地址: | 710049*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 结合 传感器 | ||
1.梁膜结合微压传感器,包括一配置有空腔的基座(4),基座(4)的空腔与基座(4)上的进气孔(9)相连通,基座(4)空腔内配置有带孔的玻璃环(2)和电路转接板(1),玻璃环(2)的孔与进气孔(9)对准用环氧树脂胶相粘,电路转接板(1)与基座(4)通过环氧树脂胶牢固粘接,基座(4)空腔内还配置一【100】晶面的全硅微压芯片(5),全硅微压芯片(5)与玻璃环(2)通过静电键合封接在一起,全硅微压芯片(5)上的五个压焊块(12、13、14、15、16)与电路转接板(1)上的焊盘(7)之间通过超声热压焊用金丝(6)连接,并将引线(8)引出,其特征在于,所说的全硅微压芯片(5)包括一硅片,在硅片的正面腐蚀形成相互垂直的第一梁(11)和第二梁(11’),在硅片背面腐蚀形成平膜(10),第一梁(11)和第二梁(11’)与硅片四周的梁共同构成一“田”字梁,形成梁膜结构。
2.根据权利要求1所说的梁膜结合微压传感器,其特征在于,所说的全硅微压芯片(5)的第一梁(11)和第二梁(11’)上沿着【110】晶向在应力最大处布置有电阻条R1、R2、R3和R4,电阻条R1的一端与第一压焊块(12)连接,电阻条R1和R4通过一公共的第五压焊块(16)连接,电阻条R3和R4通过一公共的第四压焊块(15)连接,电阻条R2和R3通过一公共的第三压焊块(14)连接,电阻条R2的另外一端与第二压焊块(13)连接。
3.根据权利要求2所说的梁膜结合微压传感器,其特征在于,所说的电阻条R1、R2、R3和R4组成惠斯通测量电路时,第四压焊块(15)至电源恒压源5V正极或恒流源1.5mA正极,第一压焊块(12)和第二压焊块(13)做完传感器零位补偿后短接在一起为惠斯通测量电路的电源的负极,第三压焊块(14)和第五压焊块(16)为惠斯通测量电路的信号输出端。
4.根据权利要求2或3所说的梁膜结合微压传感器,其特征在于,所说的五个压焊块(12、13、14、15、16)采用钛-铂-金(Ti-Pt-Au)梁式引线技术,亦即与电阻条R1、R2、R3和R4接触的金属为钛,中间的阻挡扩散金属为铂,外界梁金属为金,三者的厚度比为150:300∶1500,单位为
5.根据权利要求2或3所说的梁膜结合微压传感器,其特征在于,所说的电阻条R1、R2、R3或R4形状结构设计成两折或两折以上的结构。
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