[发明专利]离线高透净色低辐射镀膜玻璃及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200910027352.5 申请日: 2009-05-31
公开(公告)号: CN101654333A 公开(公告)日: 2010-02-24
发明(设计)人: 杨德兵;王贤荣 申请(专利权)人: 江苏蓝星玻璃有限公司
主分类号: C03C17/36 分类号: C03C17/36;C23C14/35;C23C14/08;C23C14/18;C23C14/16;C23C14/06
代理公司: 南京众联专利代理有限公司 代理人: 顾伯兴
地址: 226006江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 离线 高透净色低 辐射 镀膜 玻璃 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1、一种离线高透净色低辐射镀膜玻璃,包括玻璃基片,其特征在于:所述玻璃基片上依次设有氧化钛TiOx、氧化锌ZnOx、金属镍铬NiCr、金属银Ag、氧化镍铬NiCrOx、氧化锌ZnOx、氮化硅SiNx。

2、根据权利要求1所述离线高透净色低辐射镀膜玻璃,其特征在于:所述玻璃基片的厚度为3mm~15mm,所述氧化钛TiOx的厚度为25nm~35nm,所述氧化锌ZnOx的厚度为15nm~25nm,所述金属镍铬NiCr的厚度为6nm~10nm,所述金属银Ag的厚度为13nm~17nm,所述氧化镍铬NiCrOx的厚度为10nm~14nm,所述氧化锌ZnOx的厚度为15nm~25nm,所述氮化硅SiNx的厚度为50nm~60nm。

3、根据权利要求1或2所述离线高透净色低辐射镀膜玻璃,其特征在于:所述玻璃基片的厚度为6mm,所述氧化钛TiOx的厚度为30nm,所述氧化锌ZnOx的厚度为20nm,所述金属镍铬NiCr的厚度为8nm,所述金属银Ag的厚度为15nm,所述氧化镍铬NiCrOx的厚度为12nm,所述氧化锌ZnOx的厚度为20nm,所述氮化硅SiNx的厚度为55nm。

4、一种离线高透净色低辐射镀膜玻璃的制备方法,其特征在于:包括以下步骤:

A:选择3~15mm玻璃基片,按预定尺寸切割成玻璃片,用清洗机对玻璃片进行清洗;

B:将高真空磁控溅射镀膜设备的基础真空设置为103Pa,线速度设置为2米/分钟;

C:将玻璃基片送入镀膜室,依次设置第一高真空磁控溅射镀膜设备的功率为28KW~32KW,在玻璃基片上溅射第一层25nm~35nm的氧化钛TiOx;

D:设置第二高真空磁控溅射镀膜设备的功率为21KW~25KW,在玻璃基片上溅射第二层15nm~25nm的氧化锌ZnOx;

E:设置第三高真空磁控溅射镀膜设备的功率为2KW~3KW,在玻璃基片上溅射第三层6nm~10nm的金属镍铬NiCr;

F:设置第四高真空磁控溅射镀膜设备的功率为4.5KW~5.5KW,在玻璃基片上溅射第四层13nm~17nm的金属银Ag;

G:设置第五高真空磁控溅射镀膜设备的功率为3.5KW~4.5KW,在玻璃基片上溅射第五层10nm~14nm的氧化镍铬NiCrOx;

H:设置第六高真空磁控溅射镀膜设备的功率为10KW~14KW,在玻璃基片上溅射第六层15nm~35nm的氧化锌ZnOx;

I:设置第七高真空磁控溅射镀膜设备的功率为71KW~75KW,在玻璃基片上溅射第七层50nm~60nm的氮化硅SiNx。

5、根据权利要求4所述离线浅绿色低辐射镀膜玻璃的制备方法,其特征在于:

所述步骤A中,玻璃基片的厚度为6mm;

所述步骤C中,设置第一高真空磁控溅射镀膜设备的功率为30KW,在玻璃基片上溅射第一层30nm的氧化钛TiOx;

所述步骤D中,设置第二高真空磁控溅射镀膜设备的功率为23KW,在玻璃基片上溅射第二层20nm的氧化锌ZnOx;

所述步骤E中,设置第三高真空磁控溅射镀膜设备的功率为2.5KW,在玻璃基片上溅射第三层8nm的金属镍铬NiCr;

所述步骤F中,设置第四高真空磁控溅射镀膜设备的功率为5KW,在玻璃基片上溅射第四层15nm的金属银Ag;

所述步骤G中,设置第五高真空磁控溅射镀膜设备的功率为4KW,在玻璃基片上溅射第五层12nm的氧化镍铬NiCrOx;

所述步骤H中,设置第六高真空磁控溅射镀膜设备的功率为12KW,在玻璃基片上溅射第六层20nm的氧化锌ZnOx;

所述步骤I中,设置第七高真空磁控溅射镀膜设备的功率为73KW,在玻璃基片上溅射第七层55nm的氮化硅SiNx。

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