[发明专利]HGC集成电路测试仪

说明书

(一)技术领域

本发明涉及用于测试半岛体行业中的部分种类的IC测试仪器技术领域，具体为HGC集成电路测试仪。

(二)背景技术

现有IC测试仪器类似的有ETC测试仪器，它由RELAY卡，GPIB卡，分BIN卡，结合高精度的keithly2000万用表，失真仪，信号发生器，稳压电源，工控机，单项测试制具板共同组成。RELAY卡，GPIB卡，分BIN卡插入工控机的3个ISA插槽内，用GPIB线连接工控机内GPIB卡和keithly2000万用表。连接单项测试治具板到稳压电源，RELAY卡，失真仪，信号发生器，keithly2000万用表测量通道。a)安装TRUBO C基础软体。ETC测试仪器动态工作过程：c语言编程，编译后形成与集成电路品名相对应的*.ExE可执行性文件，来控制GPIB卡和Relay卡，自身(空格键)触发或由外部分选机产生start信号开始执行测试，Relay卡控制单项测试制具板上的继电器闭合与打开，将电压，电流，音频等信号切换到待测试的集成电路的管脚上，控制GPIB卡通过万用表采集卡采集待测集成电路产生的(或失真仪，计频器产生)电流电压等信号。与c程序中的规范值相比较，如果符合范围，就继续测试下一项，直到最后一项，然后由分bin卡输出良品信号给分选机，如果其中有一项超出设定范围，就停止下面的测试，由分bin卡输出不良品信号给分选机，进行分类。

该测试仪器存在的问题和缺点：a)：由分bin卡来进行分类信号的接受和发送，需要占用工业电脑资源(ISA插槽等)且长时间工作后或其他板卡的维修插拔易造成ISA插槽的损坏，维修不方便；b)测试数据不能分类显示，数据不能分类保存；c)没有良率统计功能，单颗产品测试时间统。

(三)发明内容

针对上述ETC测试仪器存在多占用电脑资源，易出现故障，没有统计功能，不能分类保存数据等缺陷，不能满足部分客户的需要，不能满足测试生产的稳定性之要求的问题，本发明提供了HGC集成电路测试仪，其不需要分bin卡救可以进行分类信号的接受和发送，测试数据可以分类显示、分类保存；且可以进行良率统计，单颗产品测试时间统计。

其技术方案是这样的：

其包括软件部分、硬件部分以及外围配套设备，所述软件部分包括TRUBO.C基础软件、单项测试程序、GPIB卡、RELAY卡，分BIN卡，所述外围配套设备包括信号发生器、失真仪、稳压电源以及万用表，其特征在于：所述单项测试程序兼有并口分类信号的装置、测试数据显示分类装置以及单颗IC测试时间统计的装置。

其进一步特征在于：所述并口分类信号的装置兼容所述分BIN卡的功能。

本发明采用上述结构之后，这样由程序直接控制着对产品分类信号的接收和发送，这样电脑上可以不用插分BIN卡或者(同时兼容)插BIN卡，电脑程序和分BIN卡使用者可以选择使用轮流运行，这样可以大幅度的延长BIN卡的使用寿命，从而避免了现有技术中，只能用硬件部分工作，长时间使用后由于散热，导致分BIN卡使用寿命受到影响的缺点。

(四)附图说明

图1为本发明的方框图；

图2为本发明与分选机工作的逻辑关系图；

图3为本计算机测试数据的分类显示和单颗的测试时间的统计过程框图；

图4为计算机并口代替分BIN卡的功能图。

(五)具体实施方式

见图1、图2、图3、图4，本发明包括软件部分、硬件部分以及外围配套设备，软件部分包括TRUBO.C基础软件、单项测试程序、GPIB卡、RELAY卡，分BIN卡，外围配套设备包括信号发生器、失真仪、稳压电源以及万用表，单项测试程序兼有并口分类信号的装置测试数据显示分类装置以及单颗IC测试时间统计的装置。并口分类信号的装置兼容分BIN卡的功能。trubo c基础软件为载体，单项测试c程序为执行每个特定种类的程序，编译形成可执行文件，从而调用计算机内部硬件资源工作，数据采集等。GPIB卡，为数据采集卡，用于将从测量用万用表得来的数据收集后给计算机内存。RELAY卡，为继电器卡，用于切换治具板上的继电器的闭合与打开，为需要的ic提供一个正确的工作外为电路。分bin卡，用来将计算机分析判断后的分类信号发出，并接受外来的开始测试的信号，分选机收到bin信号和EOT信号，就会按照分选机内部设定的程序，进行分类，将IC放到指定的料槽中，完成分料任务后，分选会步进下一颗料品，料品到达测试区后发start信号给hgc测试仪器，开始了下个测试循环。如果分选机没有收到上述的两个信号，分选机就会报警，待维修人员排除故障后，再自动运转。信号发生器，用来产生ic所需的音频信号或者是方波等信号。失真仪，用来测试ic输出的音频信号的失真度和电平。稳压电源，为ic提供工作电压，继电器电压。万用表用来量测ic输出电压，电流，频率，失真度等信号。