[发明专利]一种晶体硅太阳电池铝背场二次烧结工艺无效
申请号: | 200910039022.8 | 申请日: | 2009-04-27 |
公开(公告)号: | CN101540349A | 公开(公告)日: | 2009-09-23 |
发明(设计)人: | 沈辉;王学孟;张陆成 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 广州知友专利商标代理有限公司 | 代理人: | 李海波 |
地址: | 510275广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 晶体 太阳电池 铝背场 二次 烧结 工艺 | ||
1.一种晶体硅太阳电池铝背场二次烧结工艺,其特征在于,利用激光束或微波束在晶体硅太阳电池背面铝层密集扫描,使扫描区域内的铝瞬间加热熔化,并向硅体扩散,形成性能优异的重扩散铝背场。
2.根据权利要求1所述的晶体硅太阳电池铝背场二次烧结工艺,其特征在于,所述的激光束采用功率为1~1000W、波长为1100~200nm的脉冲或连续激光束,在经过聚焦后达到微米至毫米量级直径的光斑照射到铝层表面进行扫描。
3.根据权利要求1所述的晶体硅太阳电池铝背场二次烧结工艺,其特征在于,所述的微波束采用功率10~1000W、毫秒及更短的脉冲宽度的微波源,经过天线汇聚后在铝层上进行加热。
4.根据权利要求1所述的晶体硅太阳电池铝背场二次烧结工艺,其特征在于,根据晶体硅片、印刷铝层和激光、微波的性能,选择合适的扫描图样,在太阳电池背面进行全面或者局部的烧结。
5.根据权利要求4所述的多晶硅太阳电池绒面制作方法,其特征在于,所述的扫描图样设计成点阵或线阵。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的