[发明专利]光纤传感器及其在折射率及应变测量中的应用无效
申请号: | 200910039121.6 | 申请日: | 2009-04-30 |
公开(公告)号: | CN101545791A | 公开(公告)日: | 2009-09-30 |
发明(设计)人: | 陈哲;范若岩;刘林和;肖雅婷 | 申请(专利权)人: | 暨南大学 |
主分类号: | G01D5/26 | 分类号: | G01D5/26;G01N21/41;G01B11/16 |
代理公司: | 广州粤高专利代理有限公司 | 代理人: | 何淑珍;廖继海 |
地址: | 510630广东省广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光纤 传感器 及其 折射率 应变 测量 中的 应用 | ||
1.一种光纤传感器,在圆形光纤上有一段截面为D型的D型光纤段,D型光纤段的平坦面与纤芯的距离为1~3μm,D型光纤段刻有布拉格光纤光栅;其特征在于:还包括支撑体,所述支撑体支撑住D型光纤段的一端,D型光纤段被支撑体支撑部分占D型光纤段的长度的1/4~3/4。
2.根据权利要求1所述的光纤传感器,其特征在于:所述支撑体为U型槽或V型槽。
3.一种折射率测量方法,其特征在于包括以下步骤:
(1)在权利要求1或2所述的光纤传感器的D型光纤段的一端覆盖待测折射率材料,覆盖长度为D型光纤段光纤光栅区域长度的1/4~3/4;
(2)D型光纤段的一端覆盖待测折射率材料后,光纤传感器形成的布拉格反射峰为两个,两个布拉格反射峰对应的波长的差值与待测材料的折射率有关。
4.一种材料折射率与应变同时测量的测量方法,其特征在于包括以下步骤:
(1)在权利要求1或2所述的光纤传感器的D型光纤段的一端覆盖待测折射率材料,覆盖长度为D型光纤段光纤光栅区域长度的1/4~3/4;
(2)D型光纤段的一端覆盖待测折射率材料后,光纤传感器形成的布拉格反射峰为两个,两个布拉格反射峰对应的波长的差值与待测材料的折射率有关,每个布拉格反射峰对应的波长值与光纤所受应力相关。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于暨南大学,未经暨南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910039121.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:注塑机机械手抱具组件
- 下一篇:回针强制复位结构