[发明专利]表面等离子体共振生化分析的二维扫描检测方法及装置无效
申请号: | 200910041924.5 | 申请日: | 2009-08-18 |
公开(公告)号: | CN101634630A | 公开(公告)日: | 2010-01-27 |
发明(设计)人: | 钟金钢;张冼华 | 申请(专利权)人: | 暨南大学 |
主分类号: | G01N21/55 | 分类号: | G01N21/55 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 | 代理人: | 何淑珍;廖继海 |
地址: | 510630广东省广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 表面 等离子体 共振 生化 分析 二维 扫描 检测 方法 装置 | ||
1.一种表面等离子体共振生化分析的二维扫描检测方法,其特征在于包括以下步骤:
(1)将二维传感芯片(4)置于斜方棱镜(3)的前底面;斜方棱镜(3)中,入射侧面与出射侧面平行,前底面与后底面平行,前底面与入射侧面成α角,α角为锐角;X、Y、Z为直角坐标系的三个方向;斜方棱镜(3)置于X方向平移台(6)上,X方向平移台(6)下面设有旋转台(7)和Z方向平移台(8),旋转台(7)的转轴为Z方向;
(2)光源(1)发出的光束(2)垂直入射到入射侧面进入斜方棱镜(3),依次经过前底面和后底面的反射,然后经出射侧面射到探测器(5);光束(2)在入射侧面上的入射点为M点,在前底面上的入射点为O点,在后底面上的入射点为P点、在出射侧面上的出射点为N点,MOPN构成的平面垂直于Z方向;M点与O点的连线与旋转台(7)的转轴垂直相交于W点;前底面与入射侧面的交线与MOPN构成的平面的交点为B”点;W点与B”的连线与X方向一致;
式中,MW为M点到W点的距离,MO为M点到O点的距离,n为斜方棱镜(3)的折射率,α为斜方棱镜(3)的前底面与入射侧面的夹角,当不知道待测样品的共振角时,取当知道待测样品的共振角为φ0时,取φ=φ0;
(3)调节X方向平移台(6)和/或Z方向平移台(8),使光束(2)入射到二维传感芯片(4)的某一待测样品点;
(4)旋转旋转台(7),使该待测样品点产生表面等离子体共振,完成单一待测样品点的测定;然后旋转旋转台(7)使光束(2)垂直入射到入射侧面;
(5)调节X方向平移台(6)和/或Z方向平移台(8),使光束(2)入射到二维传感芯片(4)的其它待测样品点;
(6)重复步骤(4)和步骤(5),完成二维传感芯片(4)的各待测样品点的检测。
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