[发明专利]基于同轴光纤的马赫曾德干涉仪有效
| 申请号： | 200910044806.X | 申请日： | 2009-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN101464539A | 公开（公告）日： | 2009-06-24 |
| 发明（设计）人： | 庞拂飞;王廷云;刘奂奂;陈娜;徐平;闫吉文;向文超;陈振宜 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G02B6/26 | 分类号： | G02B6/26;G02B6/036 |
| 代理公司： | 上海上大专利事务所（普通合伙） | 代理人： | 何文欣 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 同轴 光纤 马赫 干涉仪 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于同轴光纤的马赫曾德干涉仪，包括单模输入光纤(1)、第一同轴光纤(2)、单模光纤(3)、第二同轴光纤(4)和单模输出光纤(5)依次连接，其特征在于所述单模输入光纤(1)和所述单模光纤(3)分别与所述第一同轴光纤(2)两端通过光纤熔接机熔接而构成纤芯模和环形波导包层模耦合光分束器；所述单模光纤(3)和所述单模输出光纤(5)分别与所述第二同轴光纤(4)两端通过光纤熔接机熔接而构成纤芯模和包层模耦合光合波器。
2.根据权利要求1所述的基于同轴光纤的马赫曾德干涉仪，其特征在于所述第一同轴光纤(2)和所述第二同轴光纤(4)为双包层结构光纤，或者为三包层结构光纤。
3.根据权利要求1或2所述的基于同轴光纤的马赫曾德干涉仪，其特征在于所述纤芯模和环形波导包层模耦合光分束器及纤芯模和环形波导包层模耦合光合波器的分光比分别由第一同轴光纤(2)和所述第二同轴光纤(4)的接入长度控制。
4.根据权利要求1或2所述的基于同轴光纤的马赫曾德干涉仪，其特征在于所述纤芯模和包层模在所述单模光纤(3)中传输的相位延迟由所述单模光纤(3)接入长度控制。
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