[发明专利]位置测量装置和位置测量方法有效

专利信息
申请号: 200910046063.X 申请日: 2009-02-10
公开(公告)号: CN101482395A 公开(公告)日: 2009-07-15
发明(设计)人: 单世宝;杨志勇;齐芊枫 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所 代理人: 屈 蘅;李时云
地址: 201203上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 位置 测量 装置 测量方法
【权利要求书】:

1.一种位置测量方法,利用一位置测量装置测试工件台的六自由度位置, 上述位置测量装置包括光源,发射出入射光;

分光镜组,将上述入射光分为沿三个测量光路的光束;

光开关执行器系统,电性连接至开关控制器,上述开关控制器控制上述光 开关执行器系统依次开关三个测量光路;

测量反射镜组;以及

二维位置测量传感器,接收测量反射镜组反射的三个测量光路的光束,

其特征是,包括以下步骤:

获得测量光路对应的输出值到被测物体位置的转换矩阵C-1

依次开关三个测量光路,记录三个测量光路的输出矢量

Ms=(h1 v1 h2 v2 h3 v3)T;以及

按照公式Mp=C-1*Ms计算上述工件台的六自由度位置,

其中,获得上述转换矩阵C-1的步骤包括:

移动工件台,直至入射到二维位置测量传感器的三个测量光路的输出量为 零;

以距离x沿单一方向移动工件台;

记录三个测量光路的输出量h1,v1,h2,v2,h3,v3;

记录x_h1=h1/x,x_v1=v1/x,x_h2=h2/x,x_v2=v2/x, x_h3=h3/x,x_v3=v3/x;

分别沿其他单一方向移动工件台,记录其他数据,则矩阵

C=x_h1y_h1rz_h1z_h1rx_h1ry_h1x_v1y_v1rz_v1z_v1rx_v1ry_v2x_h2y_h2rz_h2z_h2rx_h2ry_h2x_v2y_v2rz_v2z_v2rx_v2ry_v2x_h3y_h3rz_h3z_h3rx_h3ry_h3x_v3y_v3rz_v3z_v3ry_v3ry_v3]]>

对矩阵C求逆,则得到测量光路对应的输出值到工件台位置的转换矩阵 C-1

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