[发明专利]位置测量装置和位置测量方法有效
申请号: | 200910046063.X | 申请日: | 2009-02-10 |
公开(公告)号: | CN101482395A | 公开(公告)日: | 2009-07-15 |
发明(设计)人: | 单世宝;杨志勇;齐芊枫 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所 | 代理人: | 屈 蘅;李时云 |
地址: | 201203上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 位置 测量 装置 测量方法 | ||
1.一种位置测量方法,利用一位置测量装置测试工件台的六自由度位置, 上述位置测量装置包括光源,发射出入射光;
分光镜组,将上述入射光分为沿三个测量光路的光束;
光开关执行器系统,电性连接至开关控制器,上述开关控制器控制上述光 开关执行器系统依次开关三个测量光路;
测量反射镜组;以及
二维位置测量传感器,接收测量反射镜组反射的三个测量光路的光束,
其特征是,包括以下步骤:
获得测量光路对应的输出值到被测物体位置的转换矩阵C-1;
依次开关三个测量光路,记录三个测量光路的输出矢量
Ms=(h1 v1 h2 v2 h3 v3)T;以及
按照公式Mp=C-1*Ms计算上述工件台的六自由度位置,
其中,获得上述转换矩阵C-1的步骤包括:
移动工件台,直至入射到二维位置测量传感器的三个测量光路的输出量为 零;
以距离x沿单一方向移动工件台;
记录三个测量光路的输出量h1,v1,h2,v2,h3,v3;
记录x_h1=h1/x,x_v1=v1/x,x_h2=h2/x,x_v2=v2/x, x_h3=h3/x,x_v3=v3/x;
分别沿其他单一方向移动工件台,记录其他数据,则矩阵
对矩阵C求逆,则得到测量光路对应的输出值到工件台位置的转换矩阵 C-1。
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