[发明专利]减少测量点数的平面度评定方法无效

专利信息
申请号: 200910046279.6 申请日: 2009-02-18
公开(公告)号: CN101493321A 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: 李郝林;王雪妮 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01B21/30 分类号: G01B21/30
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 代理人: 吴宝根
地址: 200093*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 减少 测量 点数 平面 评定 方法
【权利要求书】:

1.一种减少测量点数的平面度评定方法,其特征在于,具体步骤是:

(1)按照现有的平面度测量方法,测量平面上若干个点位置上的平面误差值;

(2)根据这些有限的测量点值,通过最大熵方法,估计被测平面误差的概率分布;

(3)根据所估计的概率分布,在被测平面的其它位置上,产生测量点间平面误差的估计值,即对测量点进行插值;

(4)利用最小包容区域法、最小二乘法或对角线法的平面度误差评定方法,由平面度误差的测量值与插值位置平面误差的估计值,评定平面度误差;

(5)根据概率与统计理论和插值位置上多次估计值,分别计算平面度误差,并取这些计算结果的平均值作为最终的平面度误差评定值。

2.根据权利要求1所述的减少测量点数的平面度评定方法,其特征在于,所述最小二乘法平面度误差评定方法为:

设被测平面上任一点的坐标值为Mi(xi,yi,zi),理想平面的方程为:z=Ax+By+C;按最小二乘法,目标函数为:

minS=∑(zi-z)2=∑(zi-Axi-Byi-C)2(1)

由式(1)确定A、B、C的值,即确定理想平面的位置,再求各测点与理想平面的距离,即得各测点处的平面度误差为:

ei=zi-(Axi+Byi+C)(2)

应用最大熵方法计算平面误差的概率密度函数,被测平面相对于理想平面误差ei的概率密度p(e)的信息熵定义为:

式(3)中,R为积分空间,约束条件为:

式中,m为所用矩的阶数,mi为第i阶原点矩,

通过调整p(e)使信息熵达到最大值,采用拉格朗日乘子法求解此问题;设拉格朗日乘子为λ0,λ1,…,λm,则有

令dH/dp(e)=0,有最大熵概率密度函数的解析形式:

被测平面上坐标(xk,yk)处,平面度误差的估计值计算方法为:

根据最大熵概率密度函数p(e)随机地产生一个误差值ek,作为(xk,yk)位置处的平面误差测量值的估计值,将它换算成被测平面Z轴的坐标值zk,根据式(2)

zk=ek+(Axk+Byk+C)(8)

从而得到指定位置插值点处的平面度误差测量值的估计值。

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