[发明专利]减少测量点数的平面度评定方法无效
申请号: | 200910046279.6 | 申请日: | 2009-02-18 |
公开(公告)号: | CN101493321A | 公开(公告)日: | 2009-07-29 |
发明(设计)人: | 李郝林;王雪妮 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人: | 吴宝根 |
地址: | 200093*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 减少 测量 点数 平面 评定 方法 | ||
1.一种减少测量点数的平面度评定方法,其特征在于,具体步骤是:
(1)按照现有的平面度测量方法,测量平面上若干个点位置上的平面误差值;
(2)根据这些有限的测量点值,通过最大熵方法,估计被测平面误差的概率分布;
(3)根据所估计的概率分布,在被测平面的其它位置上,产生测量点间平面误差的估计值,即对测量点进行插值;
(4)利用最小包容区域法、最小二乘法或对角线法的平面度误差评定方法,由平面度误差的测量值与插值位置平面误差的估计值,评定平面度误差;
(5)根据概率与统计理论和插值位置上多次估计值,分别计算平面度误差,并取这些计算结果的平均值作为最终的平面度误差评定值。
2.根据权利要求1所述的减少测量点数的平面度评定方法,其特征在于,所述最小二乘法平面度误差评定方法为:
设被测平面上任一点的坐标值为Mi(xi,yi,zi),理想平面的方程为:z=Ax+By+C;按最小二乘法,目标函数为:
minS=∑(zi-z)2=∑(zi-Axi-Byi-C)2(1)
由式(1)确定A、B、C的值,即确定理想平面的位置,再求各测点与理想平面的距离,即得各测点处的平面度误差为:
ei=zi-(Axi+Byi+C)(2)
应用最大熵方法计算平面误差的概率密度函数,被测平面相对于理想平面误差ei的概率密度p(e)的信息熵定义为:
式(3)中,R为积分空间,约束条件为:
式中,m为所用矩的阶数,mi为第i阶原点矩,
通过调整p(e)使信息熵达到最大值,采用拉格朗日乘子法求解此问题;设拉格朗日乘子为λ0,λ1,…,λm,则有
令dH/dp(e)=0,有最大熵概率密度函数的解析形式:
被测平面上坐标(xk,yk)处,平面度误差的估计值计算方法为:
根据最大熵概率密度函数p(e)随机地产生一个误差值ek,作为(xk,yk)位置处的平面误差测量值的估计值,将它换算成被测平面Z轴的坐标值zk,根据式(2)
zk=ek+(Axk+Byk+C)(8)
从而得到指定位置插值点处的平面度误差测量值的估计值。
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