[发明专利]一种足弓测量方法及装置无效

专利信息
申请号: 200910046464.5 申请日: 2009-02-23
公开(公告)号: CN101502419A 公开(公告)日: 2009-08-12
发明(设计)人: 余竹生 申请(专利权)人: 上海体育学院
主分类号: A61B5/107 分类号: A61B5/107;A61B5/00
代理公司: 上海世贸专利代理有限责任公司 代理人: 严新德
地址: 20043*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 足弓 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.一种足弓测量方法,包括一个获取足印的步骤、一个测量足印的步骤和 一个评价足印的步骤,其特征在于:在所述的获取足印的步骤中,先将 染料涂覆在一个薄层海棉上,然后将该薄层海棉转移到测试对象的足 底,并利用该薄层海棉来承载测试对象的足底压力并向足底转移染料, 然后从足底移开该薄层海棉并将一个透明平板转移到足底,再利用所述 的透明平板的上表面来承载测试对象的足底压力并沾取足底的染料,从 而在透明平板上取得足底印记,在染料涂覆薄层海棉和透明平板先后转 移到测试对象的足底时,染料涂覆薄层海棉和透明平板所承受的压力相 同,透明平板上获得的足底印记与足底接触染料的情态相同,该足底印 记是测试对象的足底的真实承载重力面,在所述的测量足印的步骤中, 将一个评价图尺放置到透明平板的下表面,所述的评价图尺中设置有纵 向标尺、横向标尺和两根以上数目的平行的纵轴线,将一根所述的纵轴 线的前端对准所述的足底印记中的足第一跖骨头外侧缘,并将该纵轴线 的后端对准足底印记中的足跟内侧缘,同时将另一根纵轴线对准足底印 记中的足内侧缘,然后读取足第一跖骨头外侧缘与足第五跖骨侧头外侧 缘的宽度,并记录为足底最宽印记宽度,同时读取足底印记最窄处的宽 度,并记录为足底最窄印记宽度,在所述的评价足印的步骤中,根据足 底最窄印记宽度与足底最宽印记宽度的比值获得足弓指数。

2.如权利要求1所述的足弓测量方法,其特征在于:在所述的获取足印的 步骤中,将纸张转移到测试对象的足底,并利用该纸张来承载测试对象 的足底压力并沾取足底的染料。

3.如权利要求1所述的足弓测量方法,其特征在于:在所述的获取足印的 步骤中,将染料均匀涂抹到所述的薄层海棉上。

4.如权利要求1所述的足弓测量方法,其特征在于:所述的染料采用珠印 油。

5.如权利要求1所述的足弓测量方法,其特征在于:所述的透明平板采用 玻璃板。

6.一种实现权利要求1所述的足弓测量方法的足弓测量装置,由一个薄层 海棉和一个透明平板构成,其特征在于:所述的透明平板的下表面设置 有一个评价图尺,所述的评价图尺中设置有纵向标尺、横向标尺和两根 以上数目的平行的纵轴线,所述的薄层海棉设置在透明平板周边外的任 意位置。

7.如权利要求6所述的足弓测量装置,其特征在于:所述的评价图尺由纸 张或者塑料平板构成,所述的纸张或者塑料平板上印制有纵向标尺、横 向标尺和两根以上数目的平行的纵轴线,并印制有两根以上数目的平行 的横轴线,所述的纵轴线均与所述的横轴线垂直。

8.如权利要求6所述的足弓测量装置,其特征在于:所述的薄层海棉上覆 盖有染料。

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