[发明专利]像素单元、液晶显示装置及缺陷修复方法有效
申请号: | 200910049588.9 | 申请日: | 2009-04-15 |
公开(公告)号: | CN101866084A | 公开(公告)日: | 2010-10-20 |
发明(设计)人: | 黄贤军;彭旭辉 | 申请(专利权)人: | 上海天马微电子有限公司 |
主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362;G02F1/1368;G02F1/13 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李丽 |
地址: | 201201 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 单元 液晶 显示装置 缺陷 修复 方法 | ||
1.一种像素单元,由设置于衬底上的,彼此交叉的扫描线和数据线围成,所述像素单元包括:
配置于衬底上的像素电极;
配置于衬底上的薄膜晶体管,其栅极与所述扫描线相连,漏极与像素电极相连,源极与数据线相连,其特征在于,还包括:
公共电极线的延伸部分;
遮光条,所述遮光条沿数据线方向配置于衬底上,其至少有一端与公共电极线绝缘连接。
2.如权利要求1所述的像素单元,其特征在于,还包括:配置于衬底上的第一修复图案以及第二修复图案,所述第一修复图案的一端和第二修复图案的一端均位于数据线下,且与数据线图案部分重叠。
3.如权利要求2所述的像素单元,其特征在于,所述第一修复图案的另一端和第二修复图案的另一端,通过所述公共电极线的延伸部分相连。
4.如权利要求2所述的像素单元,其特征在于,所述第一修复图案的另一端和第二修复图案的另一端,通过所述遮光条相连。
5.如权利要求2所述的像素单元,其特征在于,所述第一修复图案包括左侧第一修复图案和右侧第一修复图案,所述第二修复图案包括左侧第二修复图案和右侧第二修复图案;所述左侧第一修复图案的另一端和左侧第二修复图案的另一端,通过所述公共电极线的延伸部分相连;所述右侧第一修复图案的另一端和右侧第二修复图案的另一端,通过所述遮光条相连。
6.如权利要求1所述的像素单元,其特征在于,还包括与所述遮光条和所述公共电极线绝缘连接的连接电极,所述遮光条与所述公共电极线位于同一金属层,所述遮光条、公共电极线以及连接电极间由同一绝缘层两两隔离,并在所述绝缘层融化时经由所述连接电极相连。
7.如权利要求1所述的像素单元,其特征在于,还包括与所述遮光条和所述公共电极线绝缘连接的连接电极,所述遮光条与数据线位于同一金属层,所述遮光条与连接电极间由第二绝缘层隔离,所述公共电极线与连接电极间由第一绝缘层、第二绝缘层隔离,并在所述第一绝缘层、第二绝缘层融化时,所述遮光条与所述公共电极线经由所述连接电极相连。
8.如权利要求1所述的像素单元,其特征在于,所述遮光条与数据线位于同一金属层,所述遮光条与所述公共电极线间由绝缘层隔离,并在所述绝缘层融化时相连。
9.如权利要求1所述的像素单元,其特征在于,所述遮光条采用金属铝、铝钕合金或金属钼。
10.如权利要求1所述的像素单元,其特征在于,所述遮光条和所述像素电极形成的冗余电容,等于公共电极线的延伸部分与像素电极形成的电容。
11.如权利要求1所述的像素单元,其特征在于,所述遮光条和所述像素电极形成的冗余电容,等于沿扫描线方向的公共电极线部分与像素电极形成的电容。
12.如权利要求11所述的像素单元,其特征在于,所述遮光条和所述像素电极形成的冗余电容,等于公共电极线的延伸部分与像素电极形成的电容。
13.一种包括权利要求1至12任一项所述的像素单元的液晶显示装置。
14.一种对如权利要求3所述的像素单元进行缺陷修复的方法,其特征在于,包括:
将修复像素中位于数据线下的,第一修复图案的一端和第二修复图案的一端均与数据线连接;
将所述第二修复图案与公共电极线的延伸部分切断;
将所述遮光条与公共电极线连接。
15.一种对如权利要求4所述的像素单元进行缺陷修复的方法,其特征在于,包括:将修复像素中位于数据线下的,第一修复图案的一端和第二修复图案的一端均与数据线连接。
16.一种对如权利要求5所述的像素单元进行缺陷修复的方法,其特征在于,包括:将修复像素中位于数据线下的,右侧第一修复图案的一端和右侧第二修复图案的一端均与数据线连接。
17.一种对如权利要求5所述的像素单元进行缺陷修复的方法,其特征在于,包括:
将修复像素中位于数据线下的,左侧第一修复图案的一端和左侧第二修复图案的一端均与数据线连接;
将所述左侧第二修复图案与公共电极线的延伸部分切断;
将所述遮光条与公共电极线连接。
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