[发明专利]相似性检测方法和装置有效

专利信息
申请号: 200910053144.2 申请日: 2009-06-16
公开(公告)号: CN101923123A 公开(公告)日: 2010-12-22
发明(设计)人: 王邕保 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 吴靖靓;李丽
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 相似性 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种相似性检测方法,其特征在于,包括:

获取两组检测数据,所述检测数据用于表征产品的性质,所述检测数据符合对数正态分布;

建立各组检测数据的对数正态分布函数对应的线性回归模型;

计算各组检测数据的线性回归模型对应的误差平方和以及误差均方;

设置各组检测数据的线性回归模型对应的置信带,所述置信带与所述计算所得的误差均方关联;

若每组检测数据的线性回归模型在另一组检测数据的线性回归模型对应的置信带内,确定两组检测数据相似。

2.如权利要求1所述的相似性检测方法,其特征在于,所述各组检测数据的线性回归模型对应的置信带根据下述公式设置:

CB=y^i±t(n-2,1-α/2)MSE(1n+(xi-T50)2Σi=1n(xi-T50)2),]]>其中,

为根据线性回归模型计算的第i个数据的估计值,n为每组检测数据的数量,α为显著水平,T50为根据线性回归模型计算的中位数,t表示统计t表,MSE为误差均方。

3.如权利要求1所述的相似性检测方法,其特征在于,所述检测数据为产品的使用寿命。

4.如权利要求1所述的相似性检测方法,其特征在于,所述每组检测数据的数量小于30。

5.如权利要求1所述的相似性检测方法,其特征在于,所述检测数据的线性回归模型表示为:Y=β01X,其中,β1=1/σ,β0=50%-T50/σ。

6.如权利要求1所述的相似性检测方法,其特征在于,所述检测数据的线性回归模型对应的误差平方和表示为:误差均方表示为:MSE=SSE/(n-2)。

7.一种相似性检测装置,其特征在于,包括:

获取单元,获取两组检测数据,所述检测数据用于表征产品的性质,所述检测数据符合对数正态分布;

建立单元,建立各组检测数据的对数正态分布函数对应的线性回归模型;

计算单元,计算各组检测数据的线性回归模型对应的误差平方和以及误差均方;

设置单元,设置各组检测数据的线性回归模型对应的置信带,所述置信带与所述计算所得的误差均方关联;

确定单元,若每组检测数据的线性回归模型在另一组检测数据的线性回归模型对应的置信带内,确定两组检测数据相似。

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