[发明专利]光盘抖晃特性测试装置及其测试方法无效

专利信息
申请号: 200910054169.4 申请日: 2009-06-30
公开(公告)号: CN101599276A 公开(公告)日: 2009-12-09
发明(设计)人: 周为;阮昊;施宏仁;余超群 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00;G11B20/18
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 光盘 特性 测试 装置 及其 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及集成电路,尤其是一种光盘抖晃特性测试装置及其测试方法。

背景技术

光盘的抖晃特性(Jitter)是指光盘读取出的HF信号经过数字化处理后,它的实际脉宽长度与理想脉宽长度的偏差及偏差的统计分布。从光盘产业来看,光盘抖晃特性是对盘片品质和激光头读取能力的重要评价参数,抖晃参数的超标会导致盘片在读码时产生较多的判断错误,严重影响读盘的效果。以往抖晃测试工作大多是利用时序分析仪(TIA)来完成,但其价格昂贵,体积庞大,可移植性和二次开发能力较差,很难普及使用。由于光盘抖晃测试的实质就是对高频脉冲宽度进行测量,再对一定数量的脉宽数据进行统计分析,通过计算得到标准偏差,于是人们尝试性地引入了一些脉宽测量方法,如时钟计数、幅度转换、游标法和延时法等方法。

时钟计数方法的实现最为简单和方便,其原理如图1所示,由图可见,脉冲的边沿控制高频时钟进行计数,所得的计数结果乘以时钟周期就是脉冲的测量宽度。图中,TA是待测脉冲的真实宽度,TN是脉冲的测量宽度,T1是脉冲上边沿的测量误差,T2是脉冲下边沿的测量误差,T0是高频时钟的周期,由于待测脉冲的边沿与时钟的边沿并不是完全一致的,所以在计数过程的启动和停止时刻会存在误差T1和T2,只有当计数时钟的频率足够高时,误差才能被接受。具体来说,时钟计数测量脉宽的误差计算公式为:

ΔT=TN-TA=T2-T1

脉宽测量的误差主要是由计数时钟的频率所决定,在脉冲宽度一定的前提下,时钟频率越高则误差越小。在32倍速的光盘系统中,读取信号的最小脉宽为21.7ns,此时需要1GHz以上频率的时钟才能达到5%以内的误差要求。而在如此高频条件下,器件工作的稳定性会显著下降,而系统成本也将提高。可以发现只有当计数时钟的频率足够高时,T0相对较小,误差才能被接受。但是单纯依靠提高时钟的频率来改善测量精度,并不能有效地满足光盘抖晃测试的要求。

幅度转换方法是利用电容充放电效应,将脉冲宽度转换成电压幅度,通过测量电压值换算得到时间的间隔。虽然幅度转换方法能够达到皮秒级别的测量分辨率,但是由于电容的充放电是一个模拟过程,容易受到信号抖动、电路噪声和外界环境温度变化等影响,所以测量过程不稳定,并且电容转换时间较长,无法进行快速连续的测量。

游标法是利用脉冲的开始和结束信号激励振荡器产生两组脉冲,再通过电容的充放电效应,以类似机械游标卡尺原理实现时间间隔的测量。这种方法同样是依靠模拟技术,所以虽然测量精度较高,但不适合大量连续脉冲的快速检测。

延时法是利用延时电路或延时单元来对脉冲宽度进行数字化,然后根据编码换算得到测量结果。此种方法采用数字电路实现,受外界干扰较小,但是延时的设计较为复杂,系统成本较高,并且开发的周期较长。

综上所述,时钟计数方法的原理最为简单,但测量分辨率由于受时钟频率的限制而无法达到高水平。时钟计数方法的误差主要是存在于待测边沿的判断过程,如果能够改善边沿的判断准确度,那么测量的分辨率同样可以达到应用的要求,并且结合时钟计数和边沿检测的测量方法可以利用数字电路来实现,系统具有更好的灵活性、稳定性和性价比,因此它成为光盘抖晃测试方法的合适选择。

发明内容

针对上述现有的技术问题,本发明的目的是提供一种光盘抖晃特性的测试装置及其测试方法,该测试装置具有原理简单,实现方便,灵活、稳定和性价比高等优点。

本发明的技术解决方案如下:

一种光盘抖晃特性测试装置,其特点是以数字可编程器件为主体的装置,该测试装置是由光驱、预处理电路、外部时钟源、现场可编程门阵列(FPGA)、计算机通信接口和计算机所构成,其连接关系是:

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